超深亚微米工艺

作品数：12被引量：25H指数：3
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相关领域：电子电信自动化与计算机技术更多>>
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单元特性提取中采样点偏离现象的研究被引量：2
《微电子学》2003年第1期22-25,共4页李伟良 葛海通 罗晓华 梁中书 严晓浪 
　为使应用于集成电路设计中的单元时序信息库更能反映实际情况,研究了特性提取中出现的采样点分布偏移和格点偏离现象,并提出了有效的解决方法。该方法通过建立查表模型,无需多次重复仿真就能准确定位任意采样点。理论分析和仿真结果...
关键词：超大规模集成电路 特性提取 采样点 查表模型 超深亚微米工艺 时序信息库 采样点 
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