袁剑峰

作品数:1被引量:1H指数:1
导出分析报告
供职机构:中国科学院长春物理所更多>>
发文主题:TFT薄膜半导体选择比反应性离子刻蚀更多>>
发文领域:电子电信更多>>
发文期刊:《液晶与显示》更多>>
-

检索结果分析

署名顺序

  • 全部
  • 第一作者
结果分析中...
条 记 录,以下是1-1
视图:
排序:
TFT工艺中的反应性离子刻蚀被引量:1
《液晶与显示》1999年第1期29-33,共5页柳江虹 袁剑峰 杨柏梁 梁庆成 马凯 
中国科学院"九五"重大项目
对TFT器件工艺中的反应性离子刻蚀技术进行了研究,给出了TFT器件工艺中常见薄膜刻蚀速率的实验结果,并讨论了掺杂气体(如H2、Ar等)对刻蚀速率的影响。
关键词:反应性 离子刻蚀 选择比 FTF器件 薄膜半导体 
检索报告 对象比较 聚类工具 使用帮助 返回顶部