赵聚朝

作品数：3被引量：9H指数：2
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供职机构：中国工程物理研究院电子工程研究所更多>>
发文主题：加固技术现场可编程门阵列电离辐射X射线剂量计算机芯片更多>>
发文领域：电子电信理学核科学技术自动化与计算机技术更多>>
发文期刊：《核技术》《核电子学与探测技术》更多>>
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N80C196KC20芯片的X射线剂量增强效应被引量：2
《核技术》2006年第3期198-201,共4页杨怀民 徐曦 邓建红 詹峻岭 赵聚朝 王旭利 袁国火 
介绍大规模集成电路N80C196KC20单片机芯片在X射线辐射环境下性能的退化及剂量增强效应。用Intel公司的N80C196KC20单片机芯片进行X射线、钴源总剂量辐照试验，测量了电源工作电流ICC，芯片的功能失效表征了它的总剂量响应。芯片在较低...
关键词：辐射效应 电离总剂量 计算机芯片 X射线剂量增强 
反熔丝FPGA的电离总剂量效应与加固技术被引量：7
《核电子学与探测技术》2002年第6期559-562,共4页赵聚朝 
简要叙述了商用 FPGA用于空间领域时面临的抗电离总剂量加固问题 ,对 Actel公司反熔丝 FPGA的电离总剂量效应进行了较为详细的分析 ,包括制造工艺、偏置条件、电泵对总剂量效应的影响。并特别指出 ,电泵的退化可能会对系统造成较为严重...
关键词：反熔丝FPGA 电离总剂量效应 加固技术 现场可编程门阵列 抗电离辐射 
计算机系统抗γ瞬时加固技术的研究现状
《电子技术参考》2002年第1期25-29,共5页赵聚朝 
武器用计算机系统必须具备在核爆产生的辐射环境中的生存能力，而国外在计算机系统抗γ瞬时辐射加固技术方面的研究。可以作为我们开展这方面研究工作的参考。
关键词：计算机系统 抗γ瞬时辐射 闭锁效应 加固技术 
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