吴笛

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高k+SiO_2栅FD-SOI MOSFET阈值电压和DIBL效应的分析及建模
《中国科学:信息科学》2019年第3期342-360,共19页万璐绪 杨建国 柯导明 吴笛 杨菲 陈甜 
国家自然科学基金(批准号:61376098;61076086)资助项目
文章提出了高k+SiO_2栅FD-SOI (fully depleted silicon-on-insulator) MOSFET,开发了它的二维亚阈值区前栅表面电势、阈值电压和DIBL (drain induced barrier lowing)效应计算模型.本文根据器件的结构和不同的介电常数,将亚阈值区的FD-...
关键词:高k+SiO2栅 FD-SOI MOSFET 阈值电压 DIBL效应 二维模型 
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