张镭

作品数：16被引量：23H指数：3
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发文主题：逻辑综合工艺映射OBDD组合逻辑电路组合逻辑更多>>
发文领域：电子电信自动化与计算机技术理学更多>>
发文期刊：《微电子学》《计算机工程与应用》《计算机辅助设计与图形学学报》《上海交通大学学报》更多>>
所获基金：美国国家科学基金国家教育部博士点基金更多>>
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实现工艺映射的新方法
《微电子学》2003年第1期9-11,共3页张镭 林争辉 吕宗伟 
美国国家科学基金资助项目(5978EastAsiaandPacificProgram-9602485);国家"九五"微电子重点科技攻关项目(96-738-01-09-02)
　逻辑综合中,工艺映射是关键的一步。过去,基于树的映射由于其速度快、算法简洁而被广泛使用。但是,将电路结构划分为树,破坏了电路结构,缩小了映射的解空间。双态覆盖(BinateCovering)能充分利用门级网表的结构特性,使工艺映射后的电...
关键词：工艺映射 双态覆盖 逻辑综合 树 电路结构 
递归学习寻找对称变量被引量：1
《上海交通大学学报》2002年第12期1709-1712,共4页张镭 林争辉 吕宗伟 
美国国家科学基金资助项目 (5 978East Asia andPacific Program-960 2 485 )
逻辑验证和逻辑综合中 ,利用对称变量的性质能提高算法整体的效率 .通常 fxixj=fxjxi被用来检验变量的对称性 .一般先分别建立 fxixj和 fxjxi的 BDD( Binary Decision Diagram)二分决策图 ,然后通过检查两 BDD图是否同构来验证 ...
关键词：逻辑集成电路 对称变量 递归学习算法 测试生成 逻辑函数 二分决策图 
加速布尔匹配算法的研究
《上海交通大学学报》2002年第3期319-322,共4页张镭 林争辉 吕宗伟 
美国国家科学基金资助项目 ( 5 978East Asia andPacific Program -96 0 2 485 )
逻辑验证和综合中 ,布尔匹配利用有序二叉判定图 (Ordered Binary Decision Diagram,OBDD)检验两个给定的逻辑函数是否相等 .直接枚举每个函数中输入变量的各种排列顺序 ,并根据这些顺序进行匹配 ,算法时间复杂度为 O(n!2 n2 ) ,n为变量...
关键词：布尔匹配算法 大规模集成电路 变量标签 最小项 有序二叉判定树 
利用不等BDD检测对称变量
《计算机辅助设计与图形学学报》2002年第2期101-104,共4页张镭 林争辉 吕宗伟 
美国国家科学基金 ( 5 978East Asia and Pacific Program -96 0 2 485 )资助
变量的对称性在逻辑综合与优化、工艺映射中起着非常重要的作用 .如果事先得到变量对称的信息 ,就可以减小解空间 ,提高逻辑验证的效率 .过去 ,人们通常用公式 fxixj=fxjxi检验变量的对称性 .这需要分别建立 fxixj和fxjxi的 BDD...
关键词：对称变量 不等蕴含项 不等BDD EDA 大规模集成电路 
基于二分图完美匹配的布尔匹配算法被引量：4
《计算机辅助设计与图形学学报》2001年第11期961-965,共5页吕宗伟 林争辉 张镭 
美国国家科学基金 ( 5 978East Asia and Pacific Program -96 0 2 485 )资助
提出了一种改进的基于二分图完美匹配的布尔匹配算法 .该算法通过把布尔变量之间的匹配问题转换为二分图的完美匹配问题 ,避免了原算法中因乘积项过多而导致计算时间过长的缺点 .对 MCNC标准测试电路的实验结果表明 :与原算法相比 ,改...
关键词：逻辑综合 工艺映射 图论 布尔匹配算法 二分图 集成电路 电路设计 
基于动态标记的FPGA延迟优化算法
《计算机辅助设计与图形学学报》2001年第9期851-854,共4页吕宗伟 林争辉 张镭 
美国国家科学基金 (5 978East Asia and Pacific Program -960 2 485 )资助
DAG- MAP是一个面向延迟优化的 FPGA工艺映射算法 ,其中的标记过程是该算法的核心 .文中对原算法中的标记过程进行了研究 ,提出了一个改进的标记方法 .对 MCNC标准测试电路所做实验的结果表明 ,该算法比原算法更为有效 。
关键词：逻辑综合 FPGA 工艺映射 VLSI 可编程逻辑块 延迟优化算法 
组合逻辑电路时序安全可替换性
《上海交通大学学报》2001年第9期1271-1274,共4页吕宗伟 林争辉 张镭 
美国国家科学基金资助项目 ( 5 978East Asia and Pacific Program-96 0 2 45 8)
讨论了组合逻辑电路的时序安全可替换性问题 ,即如何判断一个组合逻辑电路可以替换另一个组合逻辑电路而电路的速度不会降低 .提出了一种新的判断时序安全可替换性的方法 .该方法通过计算组合逻辑电路的延迟特征函数的蕴涵关系来判断时...
关键词：组合逻辑电路 逻辑综合 时序分析 时序安全可替换性 Kukimoto算法 
逻辑综合中关键门的寻找
《上海交通大学学报》2001年第9期1275-1279,1302,共6页张镭 林争辉 吕宗伟 
美国国家科学基金 ( 5 78East Asia and Pacific Pro-gram-96 0 2 485 );国家教育部博士点基金资助项目
关键路径一直是电路性能优化的核心问题之一 .门的尺寸调整和插入缓冲器是时间优化的重要方法 .实际上 ,电路拓扑图中最长的路径不一定就是关键路径 ,只有在一定输入下能敏化的最长路径才是关键路径 .因此 ,仅仅按拓扑信息优化最长的路...
关键词：关键路径 时间优化 FNA算法 逻辑综合 关键门 
基于SBDD图的布尔匹配
《计算机辅助设计与图形学学报》2001年第7期582-585,共4页张镭 吕宗伟 林争辉 
美国国家科学基金(5 978East Asia and Pacific Program -96 0 2 485 )资助
在逻辑验证和综合中 ,布尔匹配利用有序二叉判定图 OBDD来检验两个给定的逻辑函数是否相等 .为了提高匹配算法的效率 ,文中用最小项数作为标签标定变量 (变量组 ) .对比两函数中变量 (变量组 )的“标签”,可以删除不可能的排序 ,从而加...
关键词：OBDD SBDD图 布尔匹配 数字系统 有序二叉判定图 
OBDD在组合逻辑电路测试中的应用研究被引量：7
《计算机辅助设计与图形学学报》2001年第6期495-499,共5页吕宗伟 林争辉 张镭 
美国国家科学基金(5 978East Asia and Pacific Program -960 2 485 )资助
传统的组合逻辑电路测试方法在搜索过程中都不可避免地要进行反向回溯 ,由于反向回溯的次数过多 ,往往会降低算法的效率 .文中利用 OBDD来表示电路中每个节点所代表的逻辑函数 ,把传统算法中的反向回溯过程转换为 OBDD图的问题 ,从而加...
关键词：组合逻辑电路 故障检测 OBDD 测试 逻辑函数 
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