陈火军

作品数：2被引量：3H指数：1
导出分析报告
供职机构：同济大学电子与信息工程学院计算机科学与技术系更多>>
发文主题：超大规模集成电路VLSI浮栅开路故障短路故障更多>>
发文领域：电子电信自动化与计算机技术更多>>
发文期刊：《计算机工程与科学》《同济大学学报（自然科学版）》更多>>
所获基金：国家自然科学基金更多>>
-
在结果中检索

检索结果分析

署名顺序

  • 全部
  • 第一作者
结果分析中...
共 条 记 录，以下是1-2
全选清除导出
参考文献引证文献引用追踪
视图：
排序：
VLSI电路短路和开路故障模型研究进展被引量：2
《计算机工程与科学》2005年第4期49-53,共5页陈火军 江建慧 
国家自然科学基金资助项目(90207021);同济大学理科科技发展基金项目
本文概述了近十年来VLSI电路的短路和开路缺陷及其故障建模的研究进展。本文将VLSI电路短路缺陷分为逻辑门内部的短路和逻辑门之间的互连短路两大类,重点介绍了栅氧短路和桥接故障模型。相应地,文中将 VLSI电路的开路缺陷分为逻辑门内...
关键词：超大规模集成电路 VLSI 浮栅 短路故障 开路故障 电路版图 故障模型 
门级故障到寄存器传输级故障的映射被引量：1
《同济大学学报（自然科学版）》2004年第8期1061-1066,共6页陈火军 江建慧 
国家自然科学基金资助项目 (90 2 0 70 2 1) ;同济大学理科科技发展基金资助项目
以一组 74系列集成电路产品和ISCAS85基准电路为例 ,研究了基本寄存器传输级 (RTL)元件的门级单故障到RTL故障的映射关系 .结果表明 :①对大多数电路来说 ,仅考虑电路的单个原始输出端出错将无法达到所希望的门级故障覆盖率 ;②RTL电路...
关键词：故障模型 超大规模集成电路 门级电路 寄存器传输级电路 
全选清除导出
共1页<1>
检索报告 对象比较 聚类工具 使用帮助 返回顶部