陈莹磊

作品数:1被引量:9H指数:1
导出分析报告
供职机构:哈尔滨工业大学更多>>
发文主题:CCGA可靠性热循环基于统计大尺寸更多>>
发文领域:电子电信更多>>
发文期刊:《电子工艺技术》更多>>
-

检索结果分析

署名顺序

  • 全部
  • 第一作者
结果分析中...
条 记 录,以下是1-1
视图:
排序:
基于统计的高密度CCGA封装热循环寿命预测方程被引量:9
《电子工艺技术》2010年第4期196-199,共4页陈莹磊 王春青 曾超 
利用ANSYS有限元软件建立了CCGA-1144全阵列三维1/8模型,分析了焊柱在热循环条件下的应力应变情况,提出疲劳寿命预测模型。并对CCGA结构进行可靠性正交试验设计,利用有限元方法预测了正交试验各方案的疲劳寿命,并利用统计学方法分析了...
关键词:CCGA 热循环 疲劳寿命 可靠性 结构设计 
检索报告 对象比较 聚类工具 使用帮助 返回顶部