汝琼娜

作品数：2被引量：2H指数：1
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PL Mapping在SI-GaAs材料与器件性能关系研究中的应用被引量：2
《现代仪器》1999年第4期38-41,共4页李光平 汝琼娜 李静 何秀坤 王寿寅 陈祖祥 胡春风 
本文详细研究了扫描光荧光谱(PL Mapping)在半绝缘砷化镓(SI-GaAs)材料与器件性能关系中的应用,实验结果表明SI-GaAs单晶的 PL Mapping均匀性对器件性能有着至关重要的影响,所以在为制备器件选择优质的SI-GaAs材料时,除了电阻率、迁移...
关键词：扫描光荧光谱 砷化镓 器件 半导体 
掺杂GaAs中杂质缺陷的研究
《稀有金属》1991年第1期34-37,21,共5页王琴 阎萍 何秀坤 李光平 汝琼娜 李晓波 
本文利用红外吸收光谱、电子探针和X荧光光谱测量分析了GaAs中In、Cr、Si、Te、12~C、13~C等杂质。讨论了等电子掺杂、多重掺杂及同位素掺杂GaAs’中杂质的占位状态、与本征缺陷的相互作用及对材料均匀性和半绝缘性能的影响,并将部份测...
关键词：砷化镓 掺杂 杂质缺陷 
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