张宇

作品数：1被引量：1H指数：1
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VDMOS栅引线脱落引起的阈值电压测试错误分析被引量：1
《微电子学》2014年第6期825-828,共4页赵杨杨 游海龙 刘鹏 张宇 贾新章 
国家自然科学基金资助项目(60906051);中央高校基本业务费资助项目(7210531201)
讨论了栅引线脱落导致栅悬空条件下,VDMOS器件的电流传输过程。通过器件测试与仿真,指出栅引线脱落引起阈值电压测试错误的原因。提出一种将传统"两线法"与"三线法"相结合的阈值电压测试方法,避免栅引线脱落导致阈值电压测试的误判。
关键词：VDMOS 栅引线脱落 阈值电压 
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