刘昂

作品数：9被引量：15H指数：2
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供职机构：成都精密光学工程研究中心更多>>
发文主题：大口径光学玻璃应力双折射KDP晶体测量方法更多>>
发文领域：机械工程理学电子电信核科学技术更多>>
发文期刊：《应用光学》《光学学报》《中国激光》《强激光与粒子束》更多>>
所获基金：中国工程物理研究院基金更多>>
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光学玻璃应力双折射检测方法研究被引量：2
《光学学报》2015年第A02期83-87,共5页魏小红 高波 李强 徐凯源 刘昂 何宇航 柴立群 
使用高精度数字应力仪测量光学玻璃的应力双折射，给出整体应力分布及大小。实验表明温度及重力对材料／玻璃的应力双折射分布和大小有非常明显的影响，相对初始测量结果，应力双折射最大值减少了83％，均方根（RMS）值减少了87％；且...
关键词：测量 光学检测 光学玻璃 应力双折射 
基于迭代算法的两平板互检求解方法被引量：1
《光学学报》2014年第12期121-126,共6页高波 李强 刘昂 何宇航 柴立群 
中国工程物理研究院资助项目(GFZX02080201.1)
提出了一种基于两平板绝对检验的迭代面形恢复算法。算法基于两平板互检方法,通过分别翻转和旋转其中一块平板,获得4次两两测量结果。对测量得到的4个结果数据进行翻转和旋转逆操作,直接推导出三个面形与测量结果及相互之间的关系公式...
关键词：测量 绝对检测 两平板互检 迭代算法 
一种连续相位板焦斑边缘轮廓的提取方法被引量：2
《强激光与粒子束》2013年第12期3205-3209,共5页李强 徐凯源 刘昂 何宇航 高波 
为了获得连续相位板(CPP)焦斑的外形尺寸,提出一种焦斑边缘轮廓的提取方法。连续相位板焦斑图像内部梯度起伏较大,直接应用传统边缘检测方法,易形成内部伪边缘。通过对焦斑图像依次作梯度处理、阈值分割、空间扫描和椭圆拟合,可以有效...
关键词：图像处理 连续相位板 焦斑尺寸 边缘提取 算法 
大口径标准镜绝对面形精度传递方法被引量：1
《强激光与粒子束》2013年第12期3210-3214,共5页徐凯源 李强 刘昂 高波 何宇航 
中国工程物理研究院基金项目(XX05010809)
提出了一种大口径干涉仪标准镜绝对面形精度的传递方法,在已知一台干涉仪参考镜绝对面形的前提下,可向待测标准镜进行精度传递。由于检测温度与使用温度的不同,待测标准镜在另一台干涉仪作参考镜时,绝对面形会发生变化,变化集中在离焦量...
关键词：波前检测 面形精度传递方法 高精度面形检测 干涉检测 光学仪器 
光学材料光学不均匀性绝对测量误差分析被引量：6
《应用光学》2013年第3期463-468,共6页李强 刘昂 高波 徐凯源 柴立群 
中国工程物理研究院资助项目(XX05010809)
绝对测量技术去除了干涉仪参考面面形误差,可实现光学材料光学不均匀性的高精度测量。对现有主要光学材料光学不均匀性绝对检测技术进行了总结比较,针对像素错位、干涉图分辨率、干涉仪测量重复性、样品厚度以及折射率测量等因素对光学...
关键词：测量 光学不均匀性 绝对检测 误差分析 
大口径KDP晶体折射率非均匀性检测被引量：1
《应用光学》2013年第2期300-303,共4页魏小红 柴立群 高波 李强 徐凯源 何宇航 刘昂 
KDP晶体的折射率不均匀性将导致光束的空间分布存在不同程度的相位失配,从而使得三倍频系统的转换效率下降。为了得到KDP晶体折射率非均匀性的高精度检测结果,基于正交偏振干涉法,采用ZYGO MST大口径干涉仪,测量得到了大口径KDP晶体折...
关键词：KDP 折射率非均匀性 晶体面形 
大口径平板中频波前均方根的测量方法被引量：3
《中国激光》2012年第1期173-178,共6页柴立群 石琦凯 魏小红 徐建程 李强 刘昂 徐凯源 
中国工程物理研究院资助项目(05010708)资助课题
在高功率激光系统中,大口径元件的中频波前影响系统的安全运行,中频波前均方根(PSD1)是用来评价中频波前质量的关键参数。由于大口径干涉仪在系统传递函数(STF)上不能完全满足中频波前的检测要求,提出采用小口径高分辨率干涉仪检测的统...
关键词：测量 波前检测 统计方法 大口径平板 中频波前均方根 
矩形元件离焦及像散计算方法
《强激光与粒子束》2011年第12期3235-3238,共4页高波 徐凯源 柴立群 李强 魏小红 刘昂 
利用Zernike多项式进行最小二乘拟合来计算矩形元件的离焦及像散,不需要波面数据在圆域内正交,从而避免了波面数据缺失区域的数据插值。通过计算圆形口径数据,与商业软件计算结果比较,差别小于0.005倍波长,证明了该方法计算离焦及像散...
关键词：离焦 像散 最小二乘法 矩形口径 
KDP晶体应力数字式检测方法
《光电工程》2011年第12期52-56,共5页魏小红 高波 李强 徐凯源 刘昂 柴立群 
使用高精度数字式应力仪测量KDP晶体的应力,给出整体应力分布。通过沿光轴方向测量,消除晶体o光和e光的双折射效应的影响,准确得到晶体材料自身的应力双折射分布。实验结果表明,测量重复性优于0.1nm/cm。对KDP晶体材料应力的高精度数字...
关键词：数字式应力仪 KDP晶体 应力双折射 光学检测 
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