魏小红

作品数：7被引量：18H指数：3
导出分析报告
供职机构：成都精密光学工程研究中心更多>>
发文主题：光学玻璃光学检测应力双折射KDP晶体数字式更多>>
发文领域：机械工程理学电子电信核科学技术更多>>
发文期刊：《光学学报》《强激光与粒子束》《中国激光》《应用光学》更多>>
-
在结果中检索

检索结果分析

署名顺序

  • 全部
  • 第一作者
结果分析中...
共 条 记 录，以下是1-7
全选清除导出
参考文献引证文献引用追踪
视图：
排序：
光学玻璃应力双折射检测方法研究被引量：2
《光学学报》2015年第A02期83-87,共5页魏小红 高波 李强 徐凯源 刘昂 何宇航 柴立群 
使用高精度数字应力仪测量光学玻璃的应力双折射，给出整体应力分布及大小。实验表明温度及重力对材料／玻璃的应力双折射分布和大小有非常明显的影响，相对初始测量结果，应力双折射最大值减少了83％，均方根（RMS）值减少了87％；且...
关键词：测量 光学检测 光学玻璃 应力双折射 
大口径KDP晶体折射率非均匀性检测被引量：1
《应用光学》2013年第2期300-303,共4页魏小红 柴立群 高波 李强 徐凯源 何宇航 刘昂 
KDP晶体的折射率不均匀性将导致光束的空间分布存在不同程度的相位失配,从而使得三倍频系统的转换效率下降。为了得到KDP晶体折射率非均匀性的高精度检测结果,基于正交偏振干涉法,采用ZYGO MST大口径干涉仪,测量得到了大口径KDP晶体折...
关键词：KDP 折射率非均匀性 晶体面形 
镜面对称法绝对测量中的误差补偿方法被引量：5
《光学学报》2013年第4期92-96,共5页何宇航 柴立群 陈波 李强 魏小红 高波 
提出了一种对镜面对称法绝对测量中的原理性误差进行补偿的方法。镜面对称法绝对测量中,需要旋转其中一块平板,由于旋转次数的有限性,重构的三板波前均存在缺失cNθ项的原理性误差。通过增加一次不同角度的旋转,根据Zernike多项式在极...
关键词：测量 误差补偿 ZERNIKE多项式 镜面对称 绝对测量 测量精度 
大口径平板中频波前均方根的测量方法被引量：3
《中国激光》2012年第1期173-178,共6页柴立群 石琦凯 魏小红 徐建程 李强 刘昂 徐凯源 
中国工程物理研究院资助项目(05010708)资助课题
在高功率激光系统中,大口径元件的中频波前影响系统的安全运行,中频波前均方根(PSD1)是用来评价中频波前质量的关键参数。由于大口径干涉仪在系统传递函数(STF)上不能完全满足中频波前的检测要求,提出采用小口径高分辨率干涉仪检测的统...
关键词：测量 波前检测 统计方法 大口径平板 中频波前均方根 
矩形元件离焦及像散计算方法
《强激光与粒子束》2011年第12期3235-3238,共4页高波 徐凯源 柴立群 李强 魏小红 刘昂 
利用Zernike多项式进行最小二乘拟合来计算矩形元件的离焦及像散,不需要波面数据在圆域内正交,从而避免了波面数据缺失区域的数据插值。通过计算圆形口径数据,与商业软件计算结果比较,差别小于0.005倍波长,证明了该方法计算离焦及像散...
关键词：离焦 像散 最小二乘法 矩形口径 
KDP晶体应力数字式检测方法
《光电工程》2011年第12期52-56,共5页魏小红 高波 李强 徐凯源 刘昂 柴立群 
使用高精度数字式应力仪测量KDP晶体的应力,给出整体应力分布。通过沿光轴方向测量,消除晶体o光和e光的双折射效应的影响,准确得到晶体材料自身的应力双折射分布。实验结果表明,测量重复性优于0.1nm/cm。对KDP晶体材料应力的高精度数字...
关键词：数字式应力仪 KDP晶体 应力双折射 光学检测 
关于光学元件面形评价参数峰谷值(PV)的分析被引量：7
《应用光学》2010年第6期1046-1049,共4页高波 李瑞洁 魏小红 陈磊 李强 
光学元件的表面面形或波前质量一般采用数字指标峰谷值PV(表面最高点和最低点之差)来评价。而两点PV在高分辨率干涉仪的测量结果中具有很大不确定性。为了更准确地评价光学元件的表面面形或波前质量,讨论了针对两点PV进行改进后的评价方...
关键词：面形评价 PV20 PVR PVq 
全选清除导出
共1页<1>
检索报告 对象比较 聚类工具 使用帮助 返回顶部