王海丽

作品数:1被引量:2H指数:1
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供职机构:郑州大学物理工程学院更多>>
发文主题:INGAAS/INALASINALAS高电子迁移率晶体管空位缺陷质子辐照更多>>
发文领域:电子电信更多>>
发文期刊:《西安电子科技大学学报》更多>>
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InAlAs/InGaAs/InAlAs量子阱质子辐照损伤机理被引量:2
《西安电子科技大学学报》2017年第4期151-155,161,共6页王海丽 吉慧芳 孙树祥 丁芃 金智 魏志超 钟英辉 李玉晓 
国家自然科学基金资助项目(61404115,61434006,11475256)
对InP基高电子迁移率场效晶体管关键的InAlAs/InGaAs/InAlAs量子阱结构质子辐照损伤机理进行了研究.基于SRIM软件计算了50keV、75keV和200keV质子在量子阱中的投影射程和诱生空位缺陷信息.随着质子能量增加,质子注入深度逐渐增加并最终...
关键词:高电子迁移率晶体管 质子辐照 空位缺陷 非电离能量损失 
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