唐锐

作品数：4被引量：4H指数：2
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供职机构：工业和信息化部电子第五研究所更多>>
发文主题：产业链FPGA故障类型可编程逻辑阵列内部结构更多>>
发文领域：自动化与计算机技术电气工程电子电信更多>>
发文期刊：《电池》《电子产品可靠性与环境试验》《半导体光电》更多>>
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欧盟新电池法规解读及应对措施被引量：2
《电池》2024年第4期548-551,共4页龚陈茵 兰晋玲 王斌 唐锐 康如军 陈海鑫 
欧盟(EU)2023/1542《电池和废旧电池的法规》(新电池法规)的发布及实施,对我国汽车和电池行业都带来很大的影响。产业链上下游均面临更高的要求,也将直面欧盟的绿色贸易壁垒。介绍电池法规的发展历程,重点对新电池法规中有害物质、碳足...
关键词：新电池法规 绿色贸易壁垒 产业链上下游 应对措施 
基于集成电路测试程序移植开发技术研究
《电子产品可靠性与环境试验》2023年第3期97-102,共6页段文辉 黄鹏 唐锐 李军求 
主要介绍了将V93000 Pin Scale系列SmarTest 6版开发环境中已完成的测试程序,移植开发至Smart Scale系列SmarTest 7版的实现方法。进一步地探讨了测试程序移植过程中普遍存在的技术问题及对应解决方法,通过对该项技术的研究可以让企业...
关键词：集成电路 测试程序 移植开发 V93000 SmarTest 
FPGA内部资源测试探讨被引量：2
《电子产品可靠性与环境试验》2022年第1期36-41,共6页贺云 肖梦燕 唐锐 
FPGA功能的稳定与可靠对于其应用至关重要。根据FPGA内部结构特点将其分为可配置逻辑模块、输入输出单元、内部互连线路、块RAM、 DSP和时钟管理单元,以及其他特殊的功能模块,阐述了主要的FPGA测试方法并进行简要的比较。通过分析FPGA...
关键词：可编程逻辑阵列 内部结构 故障类型 测试方法 
光电隔离开关抗静电放电试验失效原因分析
《半导体光电》2012年第4期498-499,532,共3页王文双 唐锐 牛付林 
在抗静电放电(ESD)试验后通常会使用I-V特性扫描对器件是否失效进行判断。但对有些特殊电路而言,使用这种I-V特性扫描可能对电路造成电应力损伤,导致对电路是否满足ESD试验能力做出错误的判断。文章主要以光电隔离开关为例,分析了造成...
关键词：静电放电 光电器件 人体模型 I-V特性 
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