检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:王维军[1] 罗四维[1] 江泽流[1] 刘玉贵[1]
出 处:《微纳电子技术》2002年第2期43-45,共3页Micronanoelectronic Technology
摘 要:介绍了用LeicaVB5电子束曝光系统在涂敷有PMMA电子束抗蚀剂的4英寸铬板上,通过扫描曝光、湿法显影、干法刻蚀等手段制作亚微米、亚半微米铬掩模版的工艺技术。The paper describes the process technology of sub-micron and sub-half-micron Cr mask making,on4inches Cr plates coated with PMMA resist,through electron beam exposing,wet deve-lopment ,dry etching,etc.,using Leica VB5electron beam lithography system.
关 键 词:电子束制版 亚半微米 混合制版 PMMA电子束抗蚀剂 干法刻蚀 掩模版
分 类 号:TN305.7[电子电信—物理电子学]
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