检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:罗元[1] 李向东[2] 付红桥[1] 黄尚廉[1]
机构地区:[1]重庆大学光电工程学院 [2]重庆光电技术研究所,重庆400060
出 处:《半导体光电》2003年第2期127-130,共4页Semiconductor Optoelectronics
基 金:重庆市院士基金资助项目(6795)
摘 要: TMAH具有刻硅速率高、晶向选择性好、低毒性和对CMOS工艺的兼容性好等优点,而成为MEMS工艺中常用的刻蚀剂。但TMAH在刻蚀过程中会形成表面小丘,影响表面光滑性。文章重点研究了MEMS工艺中的TMAH湿法刻蚀获得光滑刻蚀表面的工艺。实验结果表明,要获得理想的刻蚀效果,刻蚀液配方和刻蚀条件的选择是非常重要的因素,实验中也得到了一些与其它报道不同的数据。TMAH has become a commonly used etchant for MEMS technology because of its high silicon etching rate, which depends on crystal orientation, low toxicity and well compatibility with CMOS technology. But during the etching, hillocks will be formed, which will make the surface rough. Smooth etched surface was obtained by using wet selective etching with TMAH. Experiments results show the importance of prescription and conditions of etching. And different data obtained from other reports are given.
关 键 词:湿法刻蚀 TMAH MEMS 微机械技术 微加工工艺 半导体
分 类 号:TN305.7[电子电信—物理电子学]
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在载入数据...
正在链接到云南高校图书馆文献保障联盟下载...
云南高校图书馆联盟文献共享服务平台 版权所有©
您的IP:216.73.216.60