电参数

作品数：1359被引量：3052H指数：19
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集成结温在线监测功能的IGBT智能驱动器被引量：2
《半导体技术》2024年第2期183-188,共6页肖凯 许琳浩 王振 严喜林 王奇 彭茂兰 邹延生 
南方电网超高压输电公司科技项目(CGYKJXM20220108)。
结温是表征功率器件寿命的重要参数,对功率器件结温进行监测具有重要意义。基于热敏电参数法,选取对温度敏感的电参量饱和导通压降V_(CE(sat))作为研究对象,在IGBT驱动器中集成高精度结温参数测量电路,使系统可在线监测功率器件结温。...
关键词：IGBT 热敏电参数 驱动器 结温在线监测 电压测量电路 
SiC MOSFET的温度特性及结温评估研究进展被引量：2
《半导体技术》2023年第7期541-556,共16页吴军科 李辉 魏云鹏 魏向楠 闫海东 
国家自然科学基金资助项目(51967005);广西科技计划项目(桂科AD20297046)。
与Si器件相比,SiC器件具有更加优异的电气性能,新特性给其结温评估带来了新挑战,许多适用于Si器件的结温评估方法可能不再适用于SiC器件。首先对SiC金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)的温度特性进行了分析,阐述了本征载流子浓度、...
关键词：功率器件 SIC 温度特性 结温评估 温敏电参数(TSEP) 
考虑热耦合的全桥功率模块功率循环方法
《半导体技术》2022年第9期704-711,共8页赵雨山 邓二平 刘鉴辉 潘茂杨 张莹 张传云 黄永章 
国家自然科学基金资助项目(52007061)。
实际应用中,功率模块桥臂之间的热耦合非常普遍,提出了考虑热耦合的全桥功率模块功率循环方法,但电流路径很难与实际工况下的电流路径保持一致。通过时序电参数法,分析了有、无热耦合条件下功率循环试验中功率模块结温的分布特点。分析...
关键词：热耦合 全桥功率模块 功率循环试验 时序电参数法 寿命 
SiC MOSFET栅极电参数退化机理及耦合关系
《半导体技术》2022年第1期9-18,共10页孟鹤立 邓二平 常桂钦 黄永章 
国家自然科学基金资助项目(52007061)。
栅极一直是SiC MOSFET可靠性研究的重点,栅极老化过程中电参数之间的耦合关系对栅极可靠性研究有至关重要的作用。为此,搭建了能够同时监测阈值电压和栅极漏电流的高温栅偏(HTGB)试验平台。研究了HTGB下阈值电压和漏电流的退化趋势和影...
关键词：均流特性 阈值电压 漏电流 SiC MOSFET 高温栅偏(HTGB)试验 
基于MEA-BP算法的IGBT结温预测模型被引量：2
《半导体技术》2020年第11期856-862,共7页孟昭亮 吕亚茹 高勇 杨媛 吴磊 
国家自然科学基金资助项目(51477138);高校人才服务企业工程项目(2017080CG/RC043(XALG009))。
针对IGBT芯片被封装在模块内部,芯片结温无法直接测量的问题,提出了基于思维进化算法(MEA)优化的反向传播(BP)(MEA-BP)神经网络算法的IGBT结温预测算法模型。首先,利用温敏电参数(TSEP)法搭建IGBT模块饱和压降实验平台;然后,从实验数据...
关键词：IGBT 反向传播(BP)神经网络 温敏电参数(TESP) 结温预测模型 MEA-BP算法 
蓝光LED投光灯具高温老化光电性能研究被引量：3
《半导体技术》2011年第1期76-78,83,共4页王爽 熊峰 杨洁翔 俞涛 
上海市科委科技攻关项目(08DZ1140601)
为了实际工程对灯具进行快速筛选和评价的需要,研究大功率LED投光灯具的老化光电特性,应用高温老化和光电性能测试的方法,对大功率蓝光LED投光灯具进行了高温老化试验并做了光电性能测试,分析其光电参数在老化过程中的变化情况。实验结...
关键词：蓝光LED 投光灯具 高温老化 光电参数 灯具性能 
特种高压硅堆的应用领域和电参数的设计测试被引量：2
《半导体技术》1995年第1期49-52,共4页项兴荣 
本文阐述了特种高压硅堆的主要应用领域，同时对其主要电参数的设计测试作了分析。
关键词：特种高压硅堆 应用 领域 电参数 设计 测试 
高压大功率开关晶体管少子寿命与诸电参数之间的关系及其控制技术的研究被引量：1
《半导体技术》1992年第1期28-33,共6页郑继义 
本文研究了少子寿命与开关晶体管主要电参数之间的相互制约关系,探索了少子寿命的控制技术。
关键词：开关晶体管 少子寿命 电参数 控制 
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