全耗尽

作品数:92被引量:86H指数:5
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相关机构:中国科学院北京大学中国科学院微电子研究所西安理工大学更多>>
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晶体管、MOS器件
《电子科技文摘》2001年第3期17-18,共2页
Y2000-62422-22 0103672低功率射频应用中部分耗尽与全耗尽绝缘体上硅MOS 场效应晶体管的比较=Comparison between fully-and partially-depleted SOI MOSFET’s for low-power ra-dio-frequency application[会.英]/Rozeau,O.& Jo-maah...
关键词:绝缘体上硅 场效应晶体管 部分耗尽 动态阈值电压 功能材料 高频特性 器件 全耗尽 低功率 源漏电压 
膜混合集成电路、MOS集成电路
《电子科技文摘》2001年第3期21-21,共1页
Y2000-62422-86 0103719全耗尽绝缘体上硅技术比例生成0.13μm 1.2~1VCMOS 电路=Scability of fully-depleted SOI technologyinto 0.13μm 1.2V~1V CMOS generation[会,英]/Raynaud,C.& Faynot,O.//1999 IEEE InternationalSOI Confe...
关键词:混合集成电路 绝缘体上硅技术 硅化物 全耗尽 混合信号电路 技术挑战 系统芯片 生成 超薄 膜厚度 
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