缺陷密度

作品数:125被引量:120H指数:5
导出分析报告
相关领域:电子电信理学更多>>
相关作者:李国强杨为家林云昊王文樑刘作莲更多>>
相关机构:中国科学院华南理工大学国际商业机器公司MEMC电子材料有限公司更多>>
相关期刊:更多>>
相关基金:国家自然科学基金国家高技术研究发展计划辽宁省自然科学基金安徽省高校省级自然科学研究项目更多>>
-

检索结果分析

结果分析中...
选择条件:
  • 主题=导体x
条 记 录,以下是1-2
视图:
排序:
外延缺陷对分布反馈半导体激光器可靠性的影响
《中国标准化》2021年第13期188-191,共4页张坤伟 焦梦丽 曹晨涛 赵润 
通过对分布反馈半导体激光器(DFB-LD)外延片缺陷密度、芯片反向电压以及芯片可靠性三者关联关系的分析,推断出芯片反向电压与芯片可靠性的相关性。设计并通过试验证实反向电压绝对值低的芯片可靠性差,而反向电压满足一定判定标准的芯片...
关键词:分布反馈半导体激光器 反向电压 二次外延生长 外延缺陷密度 失效率 
宽禁带半导体产业大尺寸第三代半导体氮化镓衬底产业化项目
《中国粉体工业》2020年第1期65-68,共4页
一、项目单位简介实现第三代半导体高性能器件产业化和规模化应用的关键是要获得价格合理的低缺陷密度GaN晶体基片。本项目技术团队所拥有的高技术和低成本优势在国内外是独一无二的,技术领先、工艺成熟,已经具备大规模量产的条件。本...
关键词:微电子器件 宽禁带半导体 光电子器件 氮化镓 缺陷密度 工艺成熟 低成本优势 技术团队 
检索报告 对象比较 聚类工具 使用帮助 返回顶部