椭偏光谱

作品数：93被引量：181H指数：7
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尖晶石结构LiTi_2O_4薄膜光学性质研究
《红外与毫米波学报》2017年第4期460-465,共6页赵明琳 刘宇翔 连洁 石玉君 宋浩男 贾艳丽 金魁 杨修伦 
国家重点基础研究项目973(2015CB921003);山东大学基本科研业务费专项资金(2016JC027)~~
用激光脉冲沉积(PLD)方法,以MgAl_2O_4(001)为衬底制备了过渡金属氧化物LiTi_2O_4薄膜.采用X射线衍射(XRD)对所制备材料进行结构测试,结果表明,材料具有立方尖晶石单相结构,结晶性能良好.应用拉曼光谱和光谱椭偏仪(SE)分别研究了材料在...
关键词：第一性原理 椭偏光谱 消光系数 过渡金属氧化物 高温超导 
GaN基热氧化物的XPS和椭偏光谱研究
《材料导报》2009年第22期12-14,共3页杜江锋 赵金霞 于奇 杨谟华 
国家重大基础研究发展计划(973)(513270408);国家自然科学基金(60576007)
采用X射线光谱仪(XPS)和椭偏测试仪(SE)对GaN材料干氧氧化所得氧化物薄膜的组分、厚度、光学常数等物理特性进行了研究。当氧化温度为900℃、氧化时间为15～240min时,XPS测试结果表明,所得氧化物类型为Ga2O3,且由于大量O空位的存在,其表...
关键词：GAN 热氧化 GA2O3 XPS SE 
ZnSe/SiO_2薄膜光学常数的椭偏光谱测量
《压电与声光》2006年第3期353-356,共4页姜海青 姚熹 车俊 汪敏强 
"九七三"计划基金资助项目(20002CB613305);中国-以色列国际合作基金资助项目
采用溶胶-凝胶工艺与原位生长技术,制备了ZnSe/SiO2复合薄膜。X-射线衍射(XRD)分析表明,ZnSe/SiO2复合薄膜中ZnSe晶体为闪锌矿(立方ZnS)。利用椭偏光谱仪测量了不同ZnSe含量的ZnSe/SiO2复合薄膜的椭偏参数Δ与波长λ的色散关系,采用Maxw...
关键词：ZnSe/SiO2复合薄膜 椭偏光谱 光学常数 有效介质理论 
Bi_(3.25)La_(0.75)Ti_3O_(12)超薄铁电薄膜的光学性质研究被引量：2
《红外与毫米波学报》2003年第4期256-260,共5页胡志高 王根水 黄志明 孟祥建 石富文 褚君浩 
国家重点基础研究专项 (批准号G0 0 1CB3 0 95 )经费;国家自然科学基金项目 (批准号 60 2 2 3 0 0 6)资助项目~~
采用化学溶液沉积法在Pt/Ti/SiO2 /Si衬底上制备了厚度小于 10 0nm的Bi3 .2 5La0 .75Ti3 O12 (BLT)铁电薄膜 ,测量了光子能量为 2～ 4 .5eV的紫外可见椭圆偏振光谱 .根据经典的电介质光学色散关系和五相结构模型 ,拟合获得薄膜在透明区...
关键词：椭偏光谱 光学常数 光电材料 禁带宽度 化学溶液沉积法 铁电薄膜 光子能量 光学色散关系 表面粗糙度 
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