SOC测试

作品数：139被引量：220H指数：9
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序列对递增生成的SOC测试调度算法被引量：2
《北京邮电大学学报》2007年第5期19-23,共5页牛道恒 王红 杨士元 
国家"973计划"项目(2005CB321604);国家自然科学基金项目(60633060)
提出了一种确定性的片上系统(SOC)测试调度算法.在对测试环采取最优分配和平衡优化的基础上,构造了包含4种序列对递增生成方法的循环迭代过程.该过程同时考虑测试访问机制的宽度、空隙面积、IP核测试面积等因素,可在较短的迭代步数得到...
关键词：片上系统 测试调度 测试环 测试访问机制 序列对 
SoC测试中低成本、低功耗的芯核包装方法被引量：4
《计算机辅助设计与图形学学报》2006年第9期1397-1402,共6页王伟 韩银和 胡瑜 李晓维 张佑生 
国家重点基础研究发展规划项目(2005CB321604);国家自然科学基金(90207002;60576031);北京市重点科技项目(H020120120130);中国科学院计算技术研究所基金(20056330;20056600-16)
提出一种SoC测试中新颖的并行芯核包装方法(parallel core wrapper design,pCWD),该包装方法利用扫描切片重叠这一特点,通过缩短包装扫描链长度来减少测试功耗和测试时间.为了进一步减少测试时间,还提出了一种测试向量扫描切片划分和赋...
关键词：SOC测试 芯核包装电路 不确定位 扫描切片 
基于卷积编码的SOC测试响应压缩研究
《中国科学（E辑）》2006年第6期686-697,共12页韩银和 李华伟 李晓维 AnshumanChandra 
国家重点基础研究发展计划(2005CB321604和2005CB321605);国家自然科学基金(批准号:90207002;60576031);北京市重点科技项目(H020120120130)资助
提出一种单输出压缩方法.首先提出了码率为n/(n?1)、距离为3的卷积码的设计规则,利用这些规则可得到卷积码的校验矩阵,该校验矩阵的实现电路即是能够提供单输出压缩的响应压缩电路.所设计的压缩电路可避免2个和任意奇数个错误位的混淆...
关键词：SOC测试 测试响应压缩 卷积码 错误位混淆率 未知位掩盖 
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