BIT设计

作品数:66被引量:157H指数:7
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相关机构:国防科学技术大学中国电子科技集团第十四研究所西北工业大学北京航空航天大学更多>>
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内置测试BIT设计的可靠性分析
《电子技术(上海)》2024年第3期338-339,共2页赵龙飞 刘洋 周永明 
阐述内置测试(BIT)系统的设计原理、可靠性分析以及性能评估方法,探讨系统在各个关键应用领域中的重要性和应用范围。通过具体案例和数据分析,展示BIT系统的性能特点和可靠性。
关键词:内置测试BIT 可靠性分析 性能评估 
一种基于FPGA的应急动力装置控制单元超转保护系统设计
《机电信息》2023年第10期42-45,共4页黄新阳 程旭 喻鸣 
提出一种基于现场可编程逻辑门阵列(Field Programmable Gate Array,FPGA)的超转保护系统设计方案。该系统采用三余度采集、控制架构,通过软件及逻辑表决控制单元及BIT检测单元,进一步提升了超转保护系统的可靠性。相较于传统的基于CPU...
关键词:应急动力装置 超转保护逻辑 BIT设计 
基于ARINC653标准的BIT设计研究与实现被引量:1
《航空计算技术》2022年第6期85-88,共4页杨利宁 唐园园 李雪源 赵路明 
航空科学基金项目资助(2020Z069031001)。
采用层级BIT设计架构,建立了操作系统层与应用层BIT交互的接口模型。按照BIT不同的分类依次设计不同类型的BIT测试项,在基于ARINC653标准AcoreOS653操作系统下实现并验证设计的相关BIT测试项。通过研究证明了在层级BIT架构下设计出的BI...
关键词:ARINC653标准 BIT 测试验证 故障阈值 
机载有源相控阵雷达的BIT设计被引量:3
《电子质量》2022年第10期171-174,共4页马强 
该文介绍机载有源相控阵雷达故障的定义,论述了BIT自检系统的分类、构成及典型设计方案。合理的、可靠的、完善的系统BIT设计,提高了机载有源相控阵雷达的可测试性、维修性、可靠性,提高了雷达执行任务成功率,体现了现代航空电子系统先...
关键词:机载有源相控阵雷达 BIT设计 BIT检测 
基于BIT设计的电子设备验证平台
《电子制作》2022年第14期83-85,共3页靳为东 赵杰 申双荣 
机内测试(BIT)是应用于复杂电子系统中非常重要的一种自测试手段,是测试性设计实现的重要保证。嵌入式测试能力的好坏直接关系到系统或设备内部检测和隔离故障的能力优劣。针对电子设备中BIT与功能设计脱节、测试总线资源不足、电子设...
关键词:BIT 测试性 故障注入 综合诊断 健康管理 
基于ASAAC标准的星载功率分配器研制
《电子测量技术》2022年第1期134-139,共6页郭永刚 王世伟 石福成 王宽 王剑祥 李文新 
真空技术与物理重点实验室基金项目(6142207200101)资助。
为了解决原子钟输出高品质频率标准路数单一的问题,同时针对空间电子系统对高品质频率标准的多路需求,基于欧洲联合标准航空电子结构委员会(ASAAC)标准,完成了一款新型星载功率分配器的设计。采用先功分后隔离的设计思路,不仅具备频率...
关键词:ASAAC标准 星载 BIT设计 功率分配 高可靠性 
相控阵雷达系统的BIT设计和故障诊断方法被引量:1
《电子测量技术》2021年第4期172-176,共5页苏洲阳 
良好的机内测试(BIT)设计和合理的故障诊断方法选择能够有效提升相控阵雷达系统的故障检测和诊断能力。本文阐述了雷达系统BIT设计的基本思路,针对某多功能相控阵雷达的基本组成和功能特点,设计了集中控制和分级检测相结合的分布式BIT...
关键词:相控阵雷达 机内测试 故障诊断 
面向健康管理的数字阵列雷达频率源的BIT设计被引量:3
《现代雷达》2020年第10期18-21,共4页杜舒明 
针对基于状态维修(CBM)的雷达健康管理需求,分析了数字阵列雷达频率源的测试性设计需求,提出了基于合成仪器的频率源机内测试(BIT)设计方案,介绍了用于频率源BIT的射频测试模块的指标要求、设计原理和关键技术解决途径,提供了测试性建...
关键词:数字阵列雷达 机内测试 健康管理 频率源 
装备研制初期的BIT设计方法研究
《装备维修技术》2020年第12期0092-0092,共1页孔德富 
随着装备的复杂程度和技术含量的日渐提高,军方对武器装备的测试性要求也越来越高。为了提高测试性设计在装备维护中的效能, 本文指出了研制初期进行测试性指标分解的必要性,并以模块类产品为例,提出了需开展的相关工作项目。
关键词:机内测试设计 故障模式影响(及危害性)分析 测试性建模 
某设备典型功能的BIT设计分析
《环境技术》2019年第A02期70-74,88,共6页孙思琦 王春辉 吴栋 雷东鹏 
设备测试性设计的目标是对设备进行性能监测、故障检测、故障隔离、虚警抑制等,使设备能及时、准确地反应其状态信息,其中BIT设计是目前设备测试性设计的主要内容。本文主要介绍了系统测试性设计方法及某设备典型功能电路BIT设计原理,...
关键词:测试性设计 诊断设计 BIT设计 虚警 
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