CDZNTE晶片

作品数:18被引量:31H指数:3
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相关机构:西北工业大学中国科学院昆明物理研究所西安科技大学更多>>
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CdZnTe晶片表面钝化后的热处理研究被引量:3
《人工晶体学报》2011年第5期1107-1110,共4页刘勇 朱世富 赵北君 陈宝军 何知宇 丁群 
国家自然科学基金(60276030);博士点基金项目(20020610023)
报道了CdZnTe晶片表面钝化后,热处理工艺对其性能的影响。先采用30%的H2O2钝化抛光好的CdZnTe晶片,然后在恒温干燥箱中进行热处理;最后使用ZC36微电流测试仪、EDX能谱仪和扫描电镜(SEM)研究热处理对钝化后的CdZnTe晶片表面的电学性能、...
关键词:碲锌镉 钝化 热处理 漏电流 电阻率 成分分析 
CdZnTe像素探测器表面的氧离子刻蚀工艺被引量:1
《功能材料与器件学报》2010年第5期515-518,共4页孙玉宝 傅莉 任洁 査钢强 
国家自然科学基金项目(50772091;50772091;50902113);教育部"新世纪人才支持计划"(NCET-07-0689);陕西省自然科学基础研究计划(2007E105)
本文报道了CdZnTe像素探测器电极的氧离子刻蚀工艺。通过I-V特性、PL谱以及XPS等实验结果分析了氧离子刻蚀对CdZnTe表面成分、缺陷以及漏电流的影响。研究结果表明,表面氧离子刻蚀在CdZnTe晶体表面形成了致密氧化层。刻蚀功率过大时,刻...
关键词:氧离子刻蚀 CDZNTE晶片 表面性能 
表面处理对CdZnTe晶片漏电流的影响
《人工晶体学报》2010年第B06期100-104,共5页邱春丽 赵北君 朱世富 丁群 何知宇 陈宝军 
国家自然科学基金(No.60276030);教育部博士点基金(No.20020610023)
采用EDS、XPS、I-V等方法研究了Cd1-xZnxTe(CZT)表面处理工艺与晶片漏电流之间的相互关系。结果表明,机械抛光后的CZT晶片存在损伤层,采用5%BM溶液腐蚀可有效去除损伤层,得到光滑无划痕的表面,但腐蚀后晶片表面组成偏离化学计量配比,随...
关键词:Cd1-xZnx Te晶片 表面处理 钝化 XPS分析 漏电流 
CdZnTe晶片4种化学钝化工艺效果的比较被引量:2
《材料保护》2010年第5期40-42,共3页刘登峰 李园园 汪晓芹 杨志远 
陕西省教育厅专项(06JK244)资助
常用于X射线和γ射线探测器中的CdZnTe(CZT)晶片经机械抛光后表面存在损伤层和许多肉眼看不到的划痕,采用溴甲醇(Br2-CH3OH)腐蚀可有效去除损伤层和划痕,使表面变得光亮平整。但经Br2-CH3OH腐蚀的表面富Te而产生较大的表面漏电流,为此,...
关键词:钝化 CDZNTE晶片 化学抛光 表面漏电流 探测器 
CdZnTe晶片的Raman光谱研究被引量:2
《人工晶体学报》2010年第1期221-225,231,共6页曾冬梅 王涛 周海 杨英歌 
西北工业大学凝固技术国家重点实验室开放课题(SKLSP201005)
利用Raman光谱技术研究了CdZnTe晶片表面处理方法、激光功率及波长变化对CdZnTe晶片的Raman谱线影响。研究表明:CdZnTe晶片分别经过机械抛光、Br-MeOH溶液处理以及Br-MeOH溶液+KOH/甲醇溶液处理后,由于表面晶格完整性的改变,Raman光谱...
关键词:CDZNTE RAMAN光谱 表面处理 激光功率 
CdZnTe接触电极与引线的超声波焊接被引量:3
《中国有色金属学报》2009年第5期919-923,共5页聂中明 傅莉 任洁 查钢强 
国家自然科学基金资助项目(50772091);教育部新世纪人才支持计划资助项目(NCET-07-0689);陕西省自然科学基础研究计划资助项目(2007E105)
为实现高电阻CdZnTe半导体(简称CZT)接触电极与外引线的超声波焊接,采用正交实验法探讨CZT接触电极与引线超声波焊接质量的影响因素及其作用规律。结果表明:经机械抛光表面处理的CZT晶片,采用离子溅射法制备的金电极与外引线间具有较高...
关键词:CDZNTE晶片 接触电极 超声波焊接 微观组织 正交实验法 
CdZnTe表面处理对其引线超声焊接质量的影响
《材料工程》2008年第9期9-12,共4页聂中明 傅莉 任洁 徐聪 
国家自然科学基金资助项目(50772091);新世纪人才支持计划(NCET-07-0689);陕西省自然科学基金(2007E;05)
采用扫描电镜及EDS测试研究了高电阻CdZnTe金电极与外引线的超声焊接工艺,探讨了CdZnTe表面处理工艺、接触电极厚度及焊接参数对引线超声焊接质量的影响规律。研究结果表明,经机械抛光表面处理的CdZnTe晶片,其金电极与外引线间容易实现...
关键词:CDZNTE晶片 超声焊接 表面处理 电极厚度 
Au/p-CdZnTe欧姆接触的电学测量及界面特性分析
《功能材料》2008年第6期1050-1051,1055,共3页张连东 聂中明 傅莉 查钢强 介万奇 
国家自然科学基金资助项目(50772091;50336040);陕西省自然科学基金资助项目(2007E105)
采用化学镀金法在高阻p-CZT(CdZnTe)晶片表面制备Au电极,并用改进的圆环传输线模型(Ring-CTLM)测量了CZT电极的接触电阻,探讨了大气气氛下退火温度对CZT电极欧姆特性的影响。实验结果表明,200℃退火可以显著改善欧姆特性,使接触电阻率c...
关键词:CDZNTE晶片 化学镀金 接触电阻率测量 CdTeO3界面层 
CdZnTe晶片中沉积相分布特性的研究被引量:3
《红外技术》2007年第2期83-87,共5页万锐敏 黄晖 赵增林 陈雪梅 胡赞东 张小文 姬荣斌 
云南省自然科学基金重点项目(2003E0012Z);云南省科技创新人才计划(2005PY02-7)
利用红外显微镜分别对富Cd和富Te配料生长的两组碲锌镉晶片的沉积相进行观察,对观察结果做统计分析,发现两组晶片中的沉积相在形状和分布情况方面有很大差别,采用数据拟合的方法发现两组CdZnTe晶片中不同尺寸的沉积相颗粒的密度满足指...
关键词:CDZNTE 沉积相 红外透过显微镜 
CdZnTe晶片表面钝化研究被引量:1
《功能材料》2005年第6期856-858,共3页汪晓芹 介万奇 周安宁 李焕勇 
用NH4F/H2O2对Br2MeOH抛光CdZnTe晶片表面进行了表面钝化处理,通过IV测试及XPS分析分别对钝化前后的CZT晶片的电学性能和表面组成进行了表征。IV测试结果表明NH4F/H2O2对CdZnTe晶片表面有较好的钝化效果,电流下降率随所加偏压的增加而...
关键词:CDZNTE 表面漏电流 钝化 TeO2 
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