MENTOR

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硬件仿真需要软实力,Mentor再添Veloce Apps
《电子产品世界》2016年第2期84-84,共1页迎九 
硬件仿真已有四十年的发展历史，芯片复杂性的不断提高驱动了硬件仿真的发展（图1）。 “相比软件仿真，硬件仿真的速度快1000到020000倍；并且在软件仿真中不能找到症结所在，例如在Linux上运行的应用功率分析，进行性能分析，找到那...
关键词：硬件仿真 APPS 软件仿真 Linux 发展历史 功率分析 性能分析 复杂性 
Mentor Graphics新型PADS和XPI工具满足当今设计需要
《电子产品世界》2015年第7期77-77,共1页王莹 
近日,Mentor Graphics在京举办PCB Forum（印制电路板论坛）,公司SDD部门业务发展经理David Wiens介绍了PCB设计的新理念及其创新产品。PADS重新定义PCB市场格局不久前,Mentor宣布以较低价位推出三款全新PADS系列产品。
关键词：MENTOR PADS XPI 印制电路板 系列产品 企业解决方案 原型设计 电子产品 参考设计 设计过程 
Mentor Graphics推出针对异构多核嵌入式软件开发的全面解决方案
《电子产品世界》2014年第8期64-64,共1页
Mentor Graphics Corporation目前宣布推出嵌入式软件行业针对异构多核芯片（SoC）开发的首个全面解决方案。
关键词：GRAPHICS 嵌入式软件开发 多核 异构 软件行业 
Mentor发布Xpedition Path Finder套件用于高效IC/封装/PCB设计优化、装配和可视化
《电子产品世界》2014年第7期71-71,共1页迎九 
Mentor GraphiCS（明导）公司宣布推出Xpedition Path Finder产品套件，具有为设计人员提供组装和优化复杂电子系统的功能，进而改进设计、增强芯片性能和提高成本效率。作为Xpedition platform最新产品，它支持利用来自IC和电路板设计...
关键词：FINDER IC封装 设计优化 PATH 套件 PCB 可视化 GraphiCS 
Mentor企业验证平台使生产率提高400倍以上
《电子产品世界》2014年第5期62-62,共1页
Melltor Graphics公司发布了Mentor企业验证平台（EVP）该平台将先进的验证解决方案Questa、全球硬件仿真资源分配技术Veloce OS3和强大的调试环境Visvalizer融合在一起，
关键词：验证平台 企业 生产率 GRAPHICS 资源分配 硬件仿真 调试环境 
Mentor与Agilent携手RF PCB设计工具方案令开发周期缩短一半
《电子产品世界》2008年第6期46-46,共1页
Mentor Graphics公司与Agilent（安捷伦）科技不久前宣布推出一款联合开发的解决方案，可显著提高用户在设计印刷电路板（PCB）射频电路时的工作效率。据两家公司称，该业界首款解决方案有望将PCB的设计周期缩短一半，同时还将显著改善...
关键词：设计工具 开发周期 GRAPHICS 印刷电路板 工作效率 射频电路 设计周期 混合技术 
65nm后,DFM的作用将逐步体现——访Mentor Graphics CEO Walden C.Rhines
《电子产品世界》2007年第10期149-149,共1页山水 
IC芯片产业在进入纳米时代后,生产工艺复杂度和物理极限等局限开始挑战被称为定律的＂Moor’s Law＂。同时,EDA技术的发展不但完全融入到电子产品的设计和定型过程中,并且开始涉足包括存档、生产、制造、测试等环节，帮助IC产业迎接工...
关键词：GRAPHICS DFM CEO 生产工艺 物理极限 IC产业 EDA技术 纳米时代 
Mentor FPGA开发工具被引量：1
《电子产品世界》2007年第6期46-46,48,50,共3页秦贤智 
FPGA厂商一般都提供集成的开发环境，如Altera QuartusⅡ和Xilinx ISE，基本上可以完成所有的设计输入（原理图或HDL）、仿真、综合、布线和下载等工作。初期的用户较多采用它们，但它们在设计仿真和逻辑综合方面不够理想，因此一般都...
关键词：开发工具 FPGA QuartusⅡ EDA工具 ALTERA XILINX 设计输入 逻辑综合 
Mentor新一代45纳米工艺的OPC技术
《电子产品世界》2007年第1期72-72,共1页崔澎 
低k1光刻（Photolithography）工艺提高了RET（Resolution Enhancement Technology）在纳米设计中的应用复杂度。在45纳米，更多的复杂模式、工艺的窗口修正（window correction）、以及验证需求增加了计算负担。在双重压力下，45纳米...
关键词：纳米工艺 OPC技术 纳米设计 复杂度 光刻 
联电采用Mentor Graphics的TestKompress解决方案
《电子产品世界》2005年第05A期138-138,共1页
Mentor Graphics日前宣布其TestKompress嵌入式决定性测试(EDT)工具已获得联电采用，该厂商将把这款工具用于他们的90和130奈米参考流程。相较于其它测试工具，TestKompress最多将测试时间减少100倍，这能帮助使用者提高复杂组件的测试...
关键词：GRAPHICS MENTOR 解决方案 测试时间 测试覆盖率 参考流程 测试工具 测试质量 测试成本 决定性 嵌入式 使用者 电测试 组件 
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