陈治国

作品数：2被引量：3H指数：1
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供职机构：电子科技大学更多>>
发文主题：漏电功耗深亚微米工艺扫描测试动态功耗电路功耗更多>>
发文领域：电子电信自动化与计算机技术更多>>
发文期刊：《微电子学与计算机》《计算机研究与发展》更多>>
所获基金：国家自然科学基金国家高技术研究发展计划更多>>
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深亚微米CMOS电路漏电流快速模拟器被引量：3
《计算机研究与发展》2004年第5期880-885,共6页徐勇军 陈治国 骆祖莹 李晓维 
国家自然科学基金重点项目 ( 90 2 0 70 0 2);国家"八六三"高技术研究发展计划基金项目( 2 0 0 1AA1110 70 )
随着工艺的发展 ,功耗成为大规模集成电路设计领域中一个关键性问题 降低电源电压是减少电路动态功耗的一种十分有效的方法 ,但为了保证系统性能 ,必须相应地降低电路器件的阈值电压 ,而这样又将导致静态功耗呈指数形式增长 ,进入深亚...
关键词：漏电功耗 深亚微米工艺 BSIM漏电模型 
一种基于概率分析的扫描链动态功耗模型
《微电子学与计算机》2004年第2期108-112,共5页陈治国 徐勇军 李晓维 
国家自然科学基金项目(90207002); 国家863计划项目(2001AA111070)
文章通过对扫描测试期间扫描链跳变统计分析,建立了基于概率统计的扫描链功耗模型。该模型可以对扫描链的动态功耗进行快速准确的估计。在此基础上,依据扫描单元的置1概率重排扫描链能有效地降低扫描功耗。实验结果表明,这种方法是有效...
关键词：CMOS电路 概率分析 扫描链 动态功耗模型 电路功耗 静态功耗 动态功耗 
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