孙艳

作品数：14被引量：49H指数：4
导出分析报告
供职机构：西安交通大学更多>>
发文主题：光纤膜厚抗原光程差生物传感器更多>>
发文领域：机械工程自动化与计算机技术理学医药卫生更多>>
发文期刊：《仪器仪表学报》《西安交通大学学报》《激光与红外》《光子学报》更多>>
所获基金：西安交通大学自然科学基金陕西省自然科学基金面向21世纪教育振兴行动计划更多>>
-
在结果中检索

检索结果分析

署名顺序

  • 全部
  • 第一作者
结果分析中...
共 条 记 录，以下是1-10
全选清除导出
参考文献引证文献引用追踪
视图：
排序：
不同中枢神经系统感染患儿血清和脑脊液炎症标记物及MMP-9水平及临床意义被引量：5
《现代生物医学进展》2020年第23期4538-4542,共5页孙艳 高小倩 赵兰欣 侯红红 王欣 
陕西省自然科学基金项目(2016SZ1298DSF0)。
目的:探讨不同中枢神经系统感染患儿血清和脑脊液中炎症标记物及基质金属蛋白酶9(Matrix metallo protein 9,MMP-9)的水平及临床意义。方法:选取本院2017年8月至2018年6月收治的198例脑膜炎儿童患者分为感染组,根据不同患病原因分成化...
关键词：中枢神经感染 CRP PCT TNF-α MMP-9 相关性 
一种主从系统数据交换设计
《电子技术应用》2006年第8期16-19,共4页李鸣明 孙艳 赵宏 
详细分析了主从式系统中双处理器数据交换的原理,提出了一种基于共享内存池传递数据的新方法。该方法数据传递效率高,具有良好的开放性,在多种视讯终端上应用良好。
关键词：主从系统 数据链路层 消息 
光学相干显微术测量散射介质内层形貌的研究被引量：1
《半导体光电》2006年第1期92-94,共3页朱永凯 李纪念 孙艳 赵宏 王昭 
提出了采用光学相干显微术测量散射介质内层形貌的方法,该方法基于低相干术和共焦显微术,其纵向测试精度是由共焦门与相干门共同决定的,能有效地排除非焦面处的杂散光的影响。通过对样品内层的三维扫描,测量样品的不同点的厚度,最终透...
关键词：光学相干显微术 散射介质 内层形貌 
GPTS3.0通用自动测试系统软件平台被引量：3
《仪表技术与传感器》2005年第12期61-62,共2页孙艳 李明鸣 赵宏 陈宁 
介绍了以标准 ATLAS716编译器及 IVI COM 技术为核心的 GPIS 3.0通用自动测试系统软件平台,及其在自动测试中的具体应用。GPTS3.0平台以 IVI 技术为核心,为编写、运行和调试 ATLAS 测试程序提供工程集成环境,用户在工作区下创建编辑 ATL...
关键词：可互换式虚拟仪器 自动测试系统软件平台 IVI技术 ATLAS模块 ATLAS源程序 
光纤测厚中光谱“双峰”现象的分析被引量：3
《半导体光电》2005年第4期356-358,共3页孙艳 赵宏 王昭 
在用反射干涉频谱法(Rifs)测量薄膜厚度的过程中,薄膜的反射光谱经常见到“双峰”现象,即相邻的波峰(或波谷)连在一起,区别于通常按吸收曲线有规律分布的光谱。对该现象进行了深入研究,结果表明:该现象和被测试处薄膜厚度不均匀有关,当...
关键词：反射干涉光谱法 薄膜 光谱 光纤 
薄膜表面不平度对厚度测试准确度影响的研究被引量：2
《半导体光电》2005年第2期112-114,共3页孙艳 赵宏 王昭 
在用反射干涉频谱法(Rifs)测量薄膜厚度的过程中,使用“Y”型光纤作为传光的媒介,光纤测试端发射出的光照射到薄膜上,反射光又回到了该光纤中。对反射光进行频谱分析可以计算出薄膜测试处的厚度。由于是光学非接触式测量,而光束又有发散...
关键词：反射干涉光谱法 薄膜 光纤 表面 
基于白光干涉的纳米级生物膜层厚度测试的研究被引量：2
《仪器仪表学报》2004年第1期10-12,47,共4页孙艳 杨玉孝 谭玉山 
提出了利用光学干涉原理在光纤传感器端面上直接测量生物免疫反应的方法 ,能够测试到纳米级厚度生物膜层的亚纳米级厚度增加量。将生物膜 (如抗原 )固定在光纤探针端面上 ,入射光在光纤—生物层、以及生物层—空气的界面处两次反射 ,由...
关键词：生物传感器 白光干涉 纳米级生物膜层 厚度测试 光学干涉原理 
光纤白光干涉法与膜厚纳米测量新技术研究被引量：7
《光子学报》2003年第8期973-976,共4页杨玉孝 熊开利 孙艳 谭玉山 
教育部"教育振兴行动计划";西安交通大学自然科学基金 (2 0 0 10 0 1)资助项目
运用薄膜光学干涉原理、光纤技术和干涉光谱分析技术 ,用光纤反射式干涉光谱仪(ReflectromicInterferenceSpectroscopy)直接测试宽带入射光在单晶硅表面超薄SiO2膜层前后界面反射形成的干涉光谱曲线 ,并用专业软件对被测光谱信号数据处...
关键词：反射式干涉光谱仪 薄膜 干涉 无损检测 
光纤频谱仪测试膜厚的新技术研究被引量：6
《仪器仪表学报》2003年第5期543-546,共4页孙艳 孙锋 杨玉孝 谭玉山 
在“Y”型光纤一个端面上垂直放置涂有透明薄膜的玻璃片 ,入射光在薄膜层的上下表面处两次反射 ,由于光程差的存在 ,反射光会发生干涉。不需要测量干涉条纹 ,根据 Fresnel反射定律 ,仅通过对反射光谱的分析计算 ,可以测出薄膜的厚度以...
关键词：薄膜 光纤频谱仪 厚度测量 干涉 光程差 
表面平整度测量的新方法研究被引量：1
《西安交通大学学报》2003年第3期314-317,共4页孙艳 王昭 谭玉山 
教育部教育"振兴计划"资助项目
介绍了用反射干涉频谱法测量透明或半透明薄膜表面平整度的方法 ,薄膜厚度的测量范围约在 0 2～ 2 0 μm(小于 2 0μm)之间 .在对二氧化硅薄膜的测试中 ,该测试方法与椭圆偏振仪的测试结果相比较 ,其纵向测量误差小于 2nm .通过光纤传...
关键词：表面平整度 测量方法 表面微观形貌 反射干涉频谱法 薄膜测量 测试精度 
全选清除导出
共2页<12>
检索报告 对象比较 聚类工具 使用帮助 返回顶部