张利民

作品数:1被引量:1H指数:1
导出分析报告
供职机构:中国电子科技集团第十三研究所更多>>
发文主题:MESFETGAAS表面GA击穿电压击穿更多>>
发文领域:电子电信更多>>
发文期刊:《半导体技术》更多>>
-

检索结果分析

署名顺序

  • 全部
  • 第一作者
结果分析中...
条 记 录,以下是1-1
视图:
排序:
GaAs表面Ga、As的比对GaAs MESFET击穿电压的影响被引量:1
《半导体技术》2004年第12期38-40,共3页李云 张利民 李岚 张绵 
通过用XPS分析GaAs MESFET肖特基势垒制作前后的表面情况,发现GaAs表面Ga、As的比,对GaAs MESFET击穿电压有着明显的影响, 表面Ga、As比的明显偏离将导致击穿电压的下降。分析了GaAs表面Ga、As比偏离的原因,提出了改进的方法。
关键词:GAAS MESFET 击穿 偏离 
检索报告 对象比较 聚类工具 使用帮助 返回顶部