张铜

作品数：2被引量：7H指数：2
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供职机构：中国人民解放军海军航空工程学院更多>>
发文主题：内建自测试FPGABIST分析器现场可编程门阵列更多>>
发文领域：自动化与计算机技术电子电信更多>>
发文期刊：《计算机与现代化》《电子设计工程》更多>>
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FPGA可编程逻辑模块的BIST测试方法被引量：4
《电子设计工程》2016年第5期152-154,共3页成本茂 黄葵 张铜 
提出了一种针对FPGA可编程逻辑模块的离线BIST测试方法。测试向量生成器(TPG)采用伪穷举法来生成测试向量,输出响应分析器(ORA)采用多输入特征寄存器(Multi-Input Shift Register,MISR)捕获原始输出并进行压缩。在QuatusⅡ9.0中进行了...
关键词：现场可编程门阵列 可编程逻辑模块 内建自测试 测试向量生成器 输出响应分析器 
基于MARCH算法的SRAM内建自测试设计被引量：3
《计算机与现代化》2013年第8期99-101,共3页张铜 成本茂 张小锋 
随着FPGA集成度和复杂性的增加,测试显得尤为重要,但是测试是FPGA设计中费用最高、难度最大的一个环节。由于片上系统的快速发展,ATE的速度及其存储量已经不能满足测试的要求,因此出现了内建自测试技术。本研究的主要目的是实现一个对3...
关键词：内建自测试 MARCH算法 QautusⅡ9 0 
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