纪志罡

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比例差值谱技术在微尺度器件可靠性研究中的最新应用
《中国集成电路》2006年第1期65-70,共6页纪志罡 许铭真 谭长华 
国家基础研究九七三项目(编号G2000036503)的支持。
本文应用比例差分(PDO,ProportionalDifferenceOperator)技术提出了一种新的表征微尺度MOS器件负偏置温度不稳定性(NegativeBiasTemperatureInstability,NBTI)的实验方法。和传统方法相比,这种新方法可以避免恢复效应对NBTI表征的影响...
关键词：MOS器件 微尺度 谱技术 可靠性研究 应用 比例 差值 NBTI 不稳定性 BIAS 
新一代半导体器件参数的比例差值谱系统
《中国集成电路》2005年第12期49-53,72,共6页纪志罡 靳磊 许铭真 谭映 王国林 马进元 
关键词：比例差值算符 器件参数 半导体 系统 大规模集成芯片 一代 本征特性 理论与实践 综合检测 直接提取 
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