丁立强

作品数:13被引量:24H指数:3
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发文领域:电子电信自动化与计算机技术一般工业技术机械工程更多>>
发文期刊:《半导体技术》《中国计量》《计量学报》《计算机与数字工程》更多>>
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电学法热阻测试切换误差评估方法研究被引量:1
《计量学报》2023年第7期1059-1063,共5页李灏 刘岩 翟玉卫 丁晨 丁立强 吴爱华 
半导体器件电学法热阻测试过程中,电流切换带来的误差是影响测试准确性的重要原因,且该误差目前尚无有效方法评估。在对误差原理分析基础上,设计了“双芯片”测试回路结构避免电流切换,得到不含切换误差的结温参考量值,实现了对仪器测...
关键词:计量学 结温测试 电流切换 双芯片回路 
高时间分辨力瞬态热反射显微热成像装置
《宇航计测技术》2022年第5期73-78,共6页刘岩 翟玉卫 荆晓冬 丁立强 任宇龙 吴爱华 
瞬态热反射显微热成像能够测量电子器件表面温度分布,兼具高时间分辨力和高空间分辨力,在GaN HEMT等大功率器件热测试中应用日益广泛。研发了瞬态热反射显微热成像装置,利用窄脉冲照明,捕捉特定短时间内被测器件表面的图像,实现瞬态热...
关键词:热反射显微热成像 温度分布 瞬态 高时间分辨力 
用于芯片电容精确测量的在片开路方法研究
《计量学报》2022年第5期657-661,共5页李灏 乔玉娥 丁晨 丁立强 刘霞美 吴爱华 
为实现芯片电容参数测量过程中的有效开路,提高在片电容测量的准确性及一致性,针对在片电容开路方法开展了研究工作。通过对标准电容器及开路器原理结构进行分析,结合半导体芯片工艺测试实际需求,设计并制作了在片开路器。在完成在片电...
关键词:计量学 片上电容测量 开路器 标准电容 芯片测试 
用光热反射热成像测量GaN HEMT稳态温度被引量:6
《中国测试》2021年第10期41-45,共5页翟玉卫 刘岩 李灏 丁晨 丁立强 吴爱华 
为测量GaN HEMT表面GaN微小结构稳态条件下的温度分布,研发光热反射热成像实验装置并对典型的GaN HEMT进行温度测试。该实验装置以365 nm紫外LED作为光源,具备405 nm的空间分辨率。测试结果显示:实验装置能有效分辨被测件栅极与漏极之间...
关键词:光热反射热成像 GaN HEMT 温度分布 稳态 
精密交流数字电桥准确度分析被引量:1
《电子测量技术》2021年第2期61-64,共4页刘霞美 吴爱华 乔玉娥 丁立强 范雅洁 
针对精密交流数字电桥计量与使用过程中,行业内普遍采用基本准确度作为仪器最终技术指标的现状,研究分析了精密交流数字电桥原理及影响测量准确度的因素。详细阐述了数字测量仪最大允许误差的计算方法,以E4980A为典型型号给出了电容参数...
关键词:精密交流数字电桥 基本准确度 最大允许误差 
显微红外测温中功率器件的边缘效应及其修正
《半导体技术》2019年第12期983-988,共6页邹学锋 丁立强 翟玉卫 刘岩 梁法国 李灏 
针对显微红外热成像中对功率器件进行测温时边缘效应引起的测温误差,提出了采用精密位置调节装置进行修正的方法。分析了显微红外测温中边缘效应产生的原因,认为热膨胀等因素造成了被测功率器件表面两种不同发射率的材料与显微红外热像...
关键词:显微红外热成像 边缘效应 发射率 位移 测温误差 功率器件 
一种基于Guard技术的皮安级电流校准方法被引量:3
《中国测试》2019年第11期45-50,共6页李灏 郑世棋 乔玉娥 丁立强 梁法国 
针对具有Guard保护端的源表类仪器皮安级电流不易计量的现状,采用取样电阻法的间接测量方案,完成微小电流的有效校准。为解决方案中高源内阻电压精确测量的难题,对源表类仪器广泛采用的Guard保护技术原理进行分析,建立高源内阻电压精确...
关键词:源表 微小电流校准 取样电阻 Guard技术 适配器 
半导体分析仪0.1pA微小电流校准及不确定度分析
《中国计量》2019年第7期110-114,共5页丁立强 丁晨 郑世棋 乔玉娥 李灏 田秀伟 
国家重点研发计划重大科学仪器设备开发专项(No.2016YFF0102105)资助
本文以半导体特性分析仪B1500A为被校对象,针对其ASU小电流测量模块的微小电流0.1 pA点,采用校准电流参数的间接测量法,使用低电流适配器、100GΩ高值电阻器和高精度数字多用表组建测量系统,实现该点的校准。根据测量模型,对校准结果各...
关键词:高精度数字多用表 校准方法 测量不确定度评定 校准结果 电流校准 高值电阻 不确定度分量 不确定度分析 
半导体器件分析仪高压参数现场校准方法
《中国计量》2019年第4期112-115,共4页丁晨 丁立强 李灏 乔玉娥 郑世棋 
半导体器件特性分析仪能够满足器件各项直流特性参数的测试需求,如器件的I-V曲线、C-V曲线、表面漏电流、击穿电压等,在半导体器件的各个环节有着不可替代的关键作用。由于半导体器件分析仪自身体积过大,精度高,拆卸繁琐,送往计量机构...
关键词:半导体器件 现场校准 测量不确定度评定 高压分压器 不确定度分量 测量结果 电压系数 数字多用表 分析仪 
1mV~10mV直流电压的高准确度校准被引量:2
《计算机与数字工程》2019年第1期1-4,23,共5页翟玉卫 程晓辉 丁立强 
针对1mV~10mV直流电压溯源方面存在的问题,提出采用恒流源、标准取样电阻和标准直流电压表的方法对较小的直流电压进行校准。采用5720A输出稳定的直流电流,用742A作为取样电阻,用8508A作为标准直流电压表,根据欧姆定律进行校准工作,并...
关键词:直流电压 校准 取样电阻 测量不确定度 
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