孟庆惠

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Ⅲ-Ⅴ族半导体材料的低温光致发光
《Journal of Semiconductors》1981年第3期243-246,共4页于鲲 孟庆惠 李永康 吴灵犀 陈廷杰 徐寿定 
砷化镓、磷化铟等Ⅲ-Ⅴ族化合物半导体已广泛应用于微波、光电等器件中.为了提高材料质量,我们建立了灵敏、非破坏性的检测手段——低温光致发光.它还适合于微区和薄膜的研究,是分析GaAs等Ⅲ-Ⅴ族半导体材料中杂质和缺陷的有效方法之一...
关键词：光致发光谱 低温光致发光 汽相外延 GAAS 双光栅单色仪 激发光 
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