申柏泉

作品数：1被引量：2H指数：1
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供职机构：中国电子科技集团第五十八研究所更多>>
发文主题：JTAGSOC内建自测试异步串行口波束控制更多>>
发文领域：电子电信更多>>
发文期刊：《电子与封装》更多>>
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SOC中的MBIST设计被引量：2
《电子与封装》2011年第1期26-28,36,共4页桂江华 钱黎明 申柏泉 周毅 
随着超大规模集成电路的发展,设计的集成度越来越高,基于IP的SOC设计正在成为IC设计的主流。为了确保SOC的功能正确,可测性设计(Design for Test,简称DFT)显得尤为关键。DFT设计包括扫描设计、JTAG设计和BIST设计。另外,当前SOC芯片中...
关键词：SOC JTAG 内建自测试 
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