王鑫

作品数：5被引量：7H指数：2
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供职机构：中国电子科技集团公司第四十六研究所更多>>
发文主题：痕量杂质加标回收率快速测定方法相对标准偏差稀土总量更多>>
发文领域：理学化学工程一般工业技术电气工程更多>>
发文期刊：《福建分析测试》《电子质量》《材料导报》更多>>
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GD-MS法在测定太阳能级多晶硅中痕量杂质中的应用研究
《电子质量》2025年第2期73-76,共4页王鑫 陈潇 何友琴 张鑫 王东雪 
采用辉光放电质谱法(GD-MS)对太阳能级多晶硅中的Na、B、Ni、Co、Fe、Mn、Cu、Ti、Mg等痕量杂质元素进行了测定,通过优化并选择GD-MS的工作参数,考察了在半定量条件下GD-MS法测定痕量杂质的精密度。结果表明,采用GD-MS法测定太阳能级多...
关键词：太阳能级多晶硅 辉光放电质谱法 杂质元素 
俄歇电子能谱测试中非导电粉末样品的荷电效应及消除方法
《福建分析测试》2024年第5期18-20,25,共4页王鑫 
俄歇电子能谱在分析绝缘样品时,要得到正确的谱图,荷电效应是一个重要的影响因素。本文选取Al_(2)0_(3)粉末为例,提出了俄歇电子能谱分析Al_(2)0_(3)粉末样品的制样方法,通过对比几种减少荷电效应的实验,选取了以覆盖铝导电膜的方法进...
关键词：俄歇电子能谱 荷电效应 Al203粉末 导电性 导电膜 
DAST晶体XPS数据分析基准的讨论被引量：1
《材料导报》2018年第A02期85-88,共4页蔺娴 李雨辰 王鑫 
为了方便地表征4-(4-二甲基氨基苯乙烯基)甲基吡啶对甲基苯磺酸盐(DAST)的性质,采用X射线光电子能谱仪(XPS)分别对两种原粉的DAST晶体、吸附有一定量水的DAST籽晶和新制备的DAST籽晶进行了表面元素分析。通过分析数据,并选取其中合适峰...
关键词：DAST 晶体 XPS 数据分析 基准 
钢铁及合金中稀土总量快速测定方法研究被引量：4
《现代仪器》2012年第1期22-23,共2页褚连青 李继爽 王鑫 魏利洁 
本文建立铜铁及其合金中稀土总量快速测定方法。试样用硫酸和硝酸的混合酸溶解，用草酸做掩蔽剂，偶氮氯膦mA与稀土生成蓝色络合物，于分光光度计波长670nm处测量其吸光度样品的加标回收率为96．0％～101．8％，相对标准偏差（RSD）为3...
关键词：快速测定方法 稀土总量 合金 钢铁 偶氮氯膦MA 相对标准偏差 加标回收率 分光光度计 
ICP-MS法测定高纯碳化硅粉表面的痕量杂质被引量：2
《现代仪器》2011年第6期61-62,65,共3页褚连青 刘占勇 王奕 王鑫 
本文采用ICP-MS法对高纯碳化硅粉表面的Na、AI、Ti、V、Cr、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Cd 12种痕量杂质进行测定,用氢氟酸溶液浸提试样表面杂质,用钇做内标补偿基体效应和仪器的漂移,用碰撞反应技术消除多原子离子干扰,通过实验确定最佳...
关键词：ICP-MS 高纯碳化硅粉 表面杂质 
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