刘迪

作品数：3被引量：13H指数：2
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供职机构：教育部更多>>
发文主题：绝缘体上硅激励源静态电流介质击穿专用集成电路更多>>
发文领域：电子电信更多>>
发文期刊：《电子与封装》《固体电子学研究与进展》更多>>
所获基金：中央高校基本科研业务费专项资金江苏高校优势学科建设工程资助项目国家自然科学基金更多>>
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SOI电路可靠性筛选技术及失效机理研究被引量：2
《电子与封装》2013年第12期30-34,共5页黄龙 刘迪 陆坚 顾晓峰 
中央高校基本科研业务费专项资金(JUSRP1026;JUDCF13032);江苏省普通高校研究生创新计划(CXLX13_747);江苏高校优势学科建设工程资助项目(PAPD)
可靠性筛选是提高电子产品良率的重要技术手段。针对绝缘体上硅(SOI)技术日益广泛的应用,通过大量实验研究了SOI电路的常用筛选试验,并对失效样品进行了相应的失效机理研究。首先讨论了SOI电路失效模式和筛选方法之间的关系;其次,针对三...
关键词：可靠性筛选 绝缘体上硅 失效分析 光发射显微镜 激励源诱导故障测试 
SOI专用集成电路的静态电流监测和失效分析被引量：8
《固体电子学研究与进展》2013年第1期97-101,共5页刘迪 陆坚 梁海莲 顾晓峰 
江苏高校优势学科建设工程资助项目;中央高校基本科研业务费专项资金资助项目(JUDCF12027,JUDCF12032);江苏省普通高校研究生创新计划(CXLX11-0486)
静态电流测试是一种高灵敏度、低成本的集成电路失效分析技术,在集成电路故障检测、可靠性测试及筛选中的应用日益普遍。针对某绝缘体上硅专用集成电路在老炼和热冲击实验后出现的静态电流测试失效现象,结合样品伏安特性、光发射显微镜...
关键词：静态电流 绝缘体上硅 光发射显微镜 扫描电子显微镜 失效分析 经时介质击穿 
基于SIFT技术的集成电路失效缺陷分析被引量：3
《固体电子学研究与进展》2012年第4期336-340,共5页刘迪 顾晓峰 陆坚 梁海莲 
国家自然科学基金资助项目(11074280);中央高校基本科研业务费专项资金资助项目(JUSRP20914,JUDCF1003);江苏省普通高校研究生创新计划资助项目(CXLX11-0486)
激励源诱导故障测试(SIFT)是一种新型的失效定位技术,可用于集成电路和分立器件中漏电、击穿、短路等失效点的定位及失效机理的分析。在介绍SIFT技术工作原理的基础上,利用该技术进行了六反相器电路的深埋层缺陷、收发器电路中电源与地...
关键词：激励源诱导故障测试 失效分析 失效定位 光发射显微镜 激光光束诱导阻抗变化测试 
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