国家教育部博士点基金(20020610023)

作品数：9被引量：9H指数：2
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CdZnTe晶片表面钝化后的热处理研究被引量：3
《人工晶体学报》2011年第5期1107-1110,共4页刘勇 朱世富 赵北君 陈宝军 何知宇 丁群 
国家自然科学基金(60276030);博士点基金项目(20020610023)
报道了CdZnTe晶片表面钝化后,热处理工艺对其性能的影响。先采用30%的H2O2钝化抛光好的CdZnTe晶片,然后在恒温干燥箱中进行热处理;最后使用ZC36微电流测试仪、EDX能谱仪和扫描电镜(SEM)研究热处理对钝化后的CdZnTe晶片表面的电学性能、...
关键词：碲锌镉 钝化 热处理 漏电流 电阻率 成分分析 
碲锌镉晶体的In、Cd双源气氛退火研究被引量：1
《四川大学学报（自然科学版）》2011年第2期421-424,共4页丁群 赵北君 朱世富 邱春丽 何知宇 陈宝军 刘勇 
国家自然科学基金(60276030);博士点基金项目(20020610023)
采用改进的垂直Bridgman法生长出尺寸为Φ20 mm×40 mm、外观完整无裂纹的Cd_(0.9)Zn_(0.1)Te(CZT)单晶体.沿晶体解理面切割晶片,在In、Cd气氛下进行退火热处理,经973K退火140 h后,采用能量色散谱仪(EDS)、ZC36型高阻仪和傅里叶红外分...
关键词：碲锌镉晶体 In Cd双源气氛退火 电阻率 EDS IR透过谱 
表面处理对CdZnTe晶片漏电流的影响
《人工晶体学报》2010年第B06期100-104,共5页邱春丽 赵北君 朱世富 丁群 何知宇 陈宝军 
国家自然科学基金(No.60276030);教育部博士点基金(No.20020610023)
采用EDS、XPS、I-V等方法研究了Cd1-xZnxTe(CZT)表面处理工艺与晶片漏电流之间的相互关系。结果表明,机械抛光后的CZT晶片存在损伤层,采用5%BM溶液腐蚀可有效去除损伤层,得到光滑无划痕的表面,但腐蚀后晶片表面组成偏离化学计量配比,随...
关键词：Cd1-xZnx Te晶片 表面处理 钝化 XPS分析 漏电流 
三温区坩埚下降法生长Cd_(1-x)Zn_xTe单晶体被引量：1
《功能材料》2009年第1期60-62,共3页邱春丽 赵北君 朱世富 王智贤 李新磊 何知宇 陈宝军 唐世红 
国家自然科学基金资助项目(60276030);教育部博士点基金资助项目(20020610023)
CdZnTe晶体是一种性能优异的室温核辐射探测器材料。在熔体法生长CdZnTe晶体的过程中，生长炉的内部温场分布对获得的晶体结构和性能有很大影响。根据CdZnTe晶体的生长习性，设计了三温区单晶炉，用坩埚下降法生长出CdZnTe单晶体。通过...
关键词：CDZNTE 单晶生长 坩埚下降法 三温区 
碲锌镉单晶片的退火方法被引量：2
《功能材料与器件学报》2008年第3期575-579,共5页高德友 赵北君 朱世富 唐世红 何知宇 张冬敏 方军 程曦 
国家自然科学基金(No.60276030);教育部博士点基金(No.20020610023)资助项目
探索了一种Cd1-xZnxTe(CZT)探测器晶片退火的新装置和新方法,该装置可以方便有效的对CZT单晶片进行同组分源退火研究。利用XRD、红外透射谱和晶体电阻率表征了采用该装置在富Cd的同组分CZT粉末源包裹下,选择适宜的退火温度和时间进行退...
关键词：碲锌镉单晶片 退火 电阻率 XRD 红外透射谱 
CZT单晶生长过程中的Zn分凝现象研究被引量：1
《半导体技术》2008年第S1期376-378,382,共4页李新磊 赵北君 朱世富 邱春丽 王智贤 丁群 何知宇 陈宝军 
国家自然科学基金(60276030);教育部博士点基金(20020610023)
采用改进的Bridgman法生长出Φ20mm×40mm、外表无裂纹的Cd0.8Zn0.2Te(CZT)单晶体。沿晶锭轴向每隔1.2cm取点,进行EDX、XRD测试。在EDX测试中发现Zn含量相对于理论值发生了偏离,随晶体生长过程呈现递减趋势,分析表明是由于Zn的分凝所引...
关键词：碲锌镉 电子能谱分析 锌分凝 晶格常数 
Cd_(0.80)Zn_(0.20)Te晶体的生长及性能研究
《人工晶体学报》2007年第6期1293-1296,共4页方军 赵北君 朱世富 何知宇 高德友 张冬敏 程曦 王智贤 
国家自然科学基金(No.60276030);教育部博士点基金(No.20020610023)
用本实验室合成的Ca0．80Zn0．20Te多晶料为原料，采用改进的布里奇曼法在镀碳和未镀碳的石英安瓿中生长出Ca0．80Zn0．20Te晶锭。使用X射线衍射仪对合成产物及晶锭进行了分析，生长晶体的X射线衍射峰尖锐，摇摆谱对称，表明晶锭的结晶...
关键词：碲锌镉 晶体生长 XRD 红外光谱 蚀坑密度 
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