云南高校图书馆联盟文献共享服务平台- 国家科技支撑计划(2006BAF06B06)

国家科技支撑计划(2006BAF06B06): 作品数：11被引量：30H指数：3; 导出分析报告; 相关作者：罗志勇张继涛叶声华康岩辉邾继贵更多>>; 相关机构：中国计量科学研究院清华大学天津大学北京化工大学更多>>; 相关期刊：《传感技术学报》《光学学报》《计量学报》《红外与激光工程》更多>>; 相关主题：光学测量阿伏加德罗常数计量学标定方法膜厚更多>>; 相关领域：机械工程一般工业技术理学金属学及工艺更多>>

硅球密度绝对测量被引量：3: 《科学通报》2012年第15期1281-1289,共9页罗志勇赵克功张继涛陈赤; 国家科技支撑计划(2006BAF06B06)资助; 单晶硅球密度的绝对测量是阿伏加德罗常数测量的关键技术,是目前国际热点研究领域.本文综述了包括我国在内的国际单晶硅球密度测量的最新进展,涉及硅球密度测量的技术原理、测量领域、影响因素、测量装置及最佳测量能力等,分析了硅球密...; 关键词：阿伏加德罗常数硅球密度相移干涉法氧化层厚度精密测量

A new route for length measurement by phase-shifting interferometry被引量：3: 《Science China(Physics,Mechanics & Astronomy)》2012年第4期599-604,共6页LUO ZhiYong LI ZhangHong; supported by the National Key Technology R&D Program of China (Grant No. 2006BAF06B06); By the mathematic models of flexible hinge,the accurate relationship between the phase-shifting and pressure acting on the hinge is deduced and verified by experimental results.Through the optimization of the geometri...; 关键词：phase-shifting interferometry flexible hinge mathematics model piezoelectricity transducer ETALON

阿伏加德罗常数测量研究最新进展被引量：2: 《计量学报》2012年第1期39-42,共4页张继涛罗志勇赵克功; 基金项目：十一五国家科技支撑计划（2006BAF06B06）; 综述了阿伏加德罗常数（NA）测量研究的最新进展。介绍了目前测NA准确度较高的方法-x射线晶体密度法，该方法通过测量单晶硅的摩尔质量、宏观密度和晶格常数得到NA。采用x射线晶体密度法有望实现NA相对测量不确定度达到2×10^-8。分析...; 关键词：计量学阿伏加德罗常数硅球摩尔质量直径氧化层

气体同位素比值质谱法测定硅同位素丰度比的样品制备方法研究: 《计量学报》2011年第5期474-477,共4页李红易洪张敬畅易未; 国家科技部科技支撑计划项目（2006BAF06B06）; 介绍了气体同位素比值质谱法测定硅同位素丰度比的样品制备方法。采用碱溶法溶解单晶硅样品，经阳离子交换反应、烘干焙烧制得二氧化硅，再用氢氟酸溶解二氧化硅得到氟硅酸溶液，进一步滴加氯化钡溶液生成氟硅酸钡沉淀，将氟硅酸钡热分...; 关键词：计量学硅同位素丰度比气体同位素比值质谱仪单晶硅摩尔质量

阿伏加德罗常数测量与千克重新定义被引量：11: 《科学通报》2011年第10期717-724,共8页李岩张继涛罗志勇; 国家科技支撑计划(2006BAF06B06);清华大学自主科研计划(2009THZ06057)资助项目; 阿伏加德罗常数(NA)是一个联系微观尺度和宏观尺度的基本物理常数,它的精确测量可用于重新定义国际基本单位千克和摩尔,因而有助于推动国际单位制的发展.现代NA测量方法为X射线晶体密度法,它以单晶硅为材料,通过测量其摩尔质量、宏观密...; 关键词：计量学阿伏加德罗常数 X射线晶体密度法单晶硅球千克重新定义

标准硅球直径测量中的光路对准: 《光电工程》2010年第2期74-79,共6页康岩辉邾继贵罗志勇叶声华; 国家科技支撑计划资助项目(2006BAF06B06); 针对标准单晶硅球直径精密测量的需要,本文在介绍标准硅球直径测量系统原理并分析其光路特点的基础上,根据建立的数学模型,对激光束斜入射标准板时产生的椭圆干涉图像进行了分析,并对不同入射角度时干涉环中心点带来的直径测量误差进行...; 关键词：光学测量直径测量干涉环椭圆度激光光束对准

一种可溯源的光谱椭偏仪标定方法被引量：10: 《物理学报》2010年第1期186-191,共6页张继涛李岩罗志勇; 国家科技支撑计划(批准号:2006BAF06B06)资助的课题~~; 提出了一种用X射线反射术标定光谱椭偏仪的方法.作为一种间接测量方法,光谱椭偏术测得的薄膜厚度依赖于其光学常数,不具有可溯源性.在掠入射条件下,X射线反射术能测得薄膜的物理厚度,测量结果具有亚纳米量级的精密度且与薄膜光学常数无...; 关键词：光谱椭偏术 X射线反射术膜厚标定

高精度标准单晶硅球直径测量系统的研究被引量：1: 《传感技术学报》2009年第10期1392-1395,共4页康岩辉邾继贵罗志勇叶声华; 国家科技支撑计划资助课题(2006BAF06B06); 为建立我国高准确度固体密度基准和质量自然基准,对高精度标准单晶硅球直径测量系统进行了研究。论述了平面波前激光干涉法测量直径的原理和方法,分析了相移扫描、温度测量控制、以及硅球体积计算等系统的关键组成部分,并给出了各部分...; 关键词：光学测量直径测量硅球相移扫描

高斯光束对标准硅球直径测量的影响分析被引量：3: 《光学学报》2008年第11期2148-2152,共5页康岩辉邾继贵罗志勇叶声华; 国家科技支撑计划(2006BAF06B06)资助课题; 针对高精度硅球直径测量系统的特点,分析平面波反射光的多光束干涉和双光束干涉,以及正入射时高斯光束反射光中心的多光束干涉和双光束干涉,对不同条件下的高斯光束反射光中心的干涉光强进行了数值模拟。对采用五步相移算法时高斯多光...; 关键词：光学测量硅球直径测量高斯光束多光束干涉

标准硅球直径精密测量中光束对准误差分析: 《红外与激光工程》2008年第S1期43-46,共4页康岩辉邾继贵杨凌辉罗志勇叶声华; 国家科技支撑计划(2006BAF06B06); 单晶硅球直径的准确测量是阿伏加德罗常数测量中一项重要内容,并决定着最终的测量不确定度。针对高精度硅球直径测量系统双光路的特点,在不考虑图像圆心提取误差的情况下,运用几何关系推导,分别就平行光束垂直于标准板和以一定角度斜入...; 关键词：光学测量硅球直径测量光束对准误差

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