深亚微米工艺

作品数：67被引量：63H指数：3
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深亚微米工艺下芯片的差分静态电流测试分析
《微电子学》2008年第5期633-636,共4页曹福全 石艳玲 陈哲 甘甜 温秀芝 刘婧 
上海市科委基金资助项目(04QMX1419,075007033)
在分析深亚微米工艺下芯片的差分静态电流(ΔIddq)测试原理的基础上,提出了一套深亚微米工艺下芯片的ΔIddq辅助测试解决方案。通过样本芯片,检验了ΔIddq测试方法的有效性;并根据检验结果,提出了Δ归一化的改进技术。经验证,这种优化...
关键词：差分静态电流测试 深亚微米器件 故障覆盖率 
8VSB芯片的层次式设计方法被引量：1
《微电子学》2003年第2期151-153,共3页朱昕荣 韩晓霞 张明 何杞鑫 郑伟 
2001年高等学校骨干教师资助计划项目
　提出了深亚微米下系统级芯片层次式版图设计的方法,并用该方法设计了HDTV信道解码芯片8VSB的版图。实例设计结果表明,该方法在节约面积、加速时序收敛方面效果明显,大大缩短了芯片设计周期。
关键词：8VSB芯片 层次式设计方法 系统级芯片 层次式版图设计 信道解码器 深亚微米工艺 专用集成电路 
单元特性提取中采样点偏离现象的研究被引量：2
《微电子学》2003年第1期22-25,共4页李伟良 葛海通 罗晓华 梁中书 严晓浪 
　为使应用于集成电路设计中的单元时序信息库更能反映实际情况,研究了特性提取中出现的采样点分布偏移和格点偏离现象,并提出了有效的解决方法。该方法通过建立查表模型,无需多次重复仿真就能准确定位任意采样点。理论分析和仿真结果...
关键词：超大规模集成电路 特性提取 采样点 查表模型 超深亚微米工艺 时序信息库 采样点 
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