椭偏法

作品数：65被引量：156H指数：7
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椭偏法测量拓扑绝缘体的复折射率被引量：1
《物理实验》2021年第1期22-26,共5页陆华 李扬武 岳增记 曾为 
国家自然科学基金项目(No.11974283,11774290,61705186);陕西省自然科学基础研究计划项目(No.2020JM-130)。
采用椭偏法测量了拓扑绝缘体Bi 2Te 3单晶的复折射率.运用经典的德鲁德和托克-洛伦兹模型分别对拓扑绝缘体的表面态和体态进行拟合,获得了其折射率和消光系数,并且分析了色散曲线的变化规律.实验结果表明:Bi 2Te 3拓扑绝缘体的体态具有...
关键词：椭偏法 拓扑绝缘体 Bi 2Te 3 复折射率 消光系数 
微波椭偏法测量不透明材料的厚度被引量：1
《物理实验》2011年第2期6-10,共5页张亮 曹力丹 潘永华 高惠滨 
在传统的激光椭偏法测量厚度的基础上,用微波取代激光测量了不透明材料的厚度.分析了偏转角及反射干扰产生的误差,并提出了修正方法.测量结果表明:该方法可以比较精确地测量铝板和塑料板的厚度;由于散射的影响,表面磨砂的有机玻璃板的...
关键词：厚度 不透明材料 椭圆偏振法 微波 
椭偏法测膜厚的直接计算方法被引量：19
《物理实验》1998年第1期11-13,共3页吴永汉 窦菊英 
改进了椭偏法测薄膜折射率和膜厚的迭代计算方法，由测量得到的起偏角A和检偏角P直接算出薄膜折射率和膜厚．
关键词：椭偏法 迭代计算 薄膜 折射率 膜厚 
椭偏法测厚及折射率的计算机解算被引量：1
《物理实验》1991年第5期222-223,221,共3页沙洪均 
WJZ型多功能激光椭圆偏振仪是在JJY型分光计上附加激光椭偏装置而组成。兼有分光计和椭偏仪的功能,可用于测量不同基底上介质薄膜的厚度和折射率;除作为高校中级物理实验外,亦可用于材料表面光学参数的分析研究。但是,与原椭偏装置相配...
关键词：椭偏法 折射率 厚度 计算机 薄膜 
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