可测试性设计

作品数：183被引量：407H指数：9
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SOC的可测试性设计策略被引量：2
《半导体技术》2006年第9期687-691,共5页周宇亮 马琪 
浙江省重大科技攻关项目(2004C17002)
介绍了几种主要的VLSI可测性设计技术,如内部扫描法、内建自测试法和边界扫描法等,论述如何综合利用这些方法解决SOC内数字逻辑模块、微处理器、存储器、模拟模块、第三方IP核等的测试问题,并对SOC的可测性设计策略进行了探讨。
关键词：可测试性设计 系统芯片 内部扫描 内建自测试 边界扫描 
测试与可测试性设计发展的挑战被引量：4
《半导体技术》2005年第2期33-37,共5页张永光 徐元欣 王匡 
CMOS器件进入超深亚微米阶段,集成电路(IC)继续向高集成度、高速度、低功耗发展,使得IC在测试和可测试性设计上都面临新的挑战。本文首先介绍了测试和可测试性设计的概念,分析了测试和可测试性设计面临的困境;然后讨论了系统芯片设计中...
关键词：可测试性设计 可控制性 可观察性 系统芯片 
DFT时代的ATE结构——多端口ATE被引量：2
《半导体技术》2003年第6期41-43,共3页Masaharu Goto Klaus-Dieter Hilliges 
在单颗硅芯片上设计更多系统功能(SOC)的趋势,增加了IC的开发与制造测试的复杂度。未来对于较高速度与较多管脚数的需求,将使传统的自动化测试仪器(ATE)变得非常昂贵。为了减轻开发工作的负担及降低制造测试的成本,不得不寻求知识产权(...
关键词：DFT 多端口ATE结构 自动化测试仪器 可测试性设计 芯片测试 
边界扫描测试技术被引量：1
《半导体技术》2002年第9期17-20,29,共5页王孜 刘洪民 吴德馨 
边界扫描技术是一种标准化的可测试性设计方法,它提供了对电路板上元件的功能、互连及相互间影响进行测试的一种新方案,极大地方便了系统电路的测试。介绍了边界扫描技术的原理、结构,讨论了边界扫描技术的应用。
关键词：边界扫描 边界扫描测试技术 印刷电路板 BST 可测试性设计 
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