王雷

作品数:3被引量:3H指数:1
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供职机构:中国科学院微电子研究所更多>>
发文主题:存储器芯片初始化比特检错更多>>
发文领域:电子电信航空宇航科学技术更多>>
发文期刊:《微电子学与计算机》《核电子学与探测技术》《电子技术应用》更多>>
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基于硬件加速器的高性能芯片仿真与验证被引量:2
《电子技术应用》2019年第8期61-62,67,共3页王雷 王晨光 吴斌 
展示了一款高性能无线局域网芯片采用硬件仿真加速器进行全芯片仿真与验证的工作。该芯片采用了4发4收多天线、256QAM等技术,最高可以实现1.2Gb/s的数据吞吐率。由于该芯片设计复杂,规模庞大,只使用传统的软件模拟和FPGA仿真难以实现芯...
关键词:硬件仿真 超大规模集成电路设计 数字电路验证 
单粒子瞬态脉冲宽度量化与自测试电路设计
《微电子学与计算机》2014年第10期43-47,共5页向一鸣 蒋见花 戴睿 王雷 
国家重大科技专项(2009ZX02306003;2009ZX02305013)
为了研究组合逻辑中单粒子瞬态(Single-Event Transient,SET)的特性,采用片上测量技术提出了一套SET脉冲宽度测量方案.针对SET脉冲特性,设计了一种基于自主触发的脉冲测量电路,提出了一种用于自测试验证的脉冲激励电路.基于本所350nm SO...
关键词:单粒子瞬态(SET) 辐射效应 片内测试 SOI 
针对存储器单粒子效应的测试系统设计被引量:1
《核电子学与探测技术》2013年第12期1519-1522,1436,共5页王雷 蒋见花 谢朝辉 周玉梅 
国家科技重大专项(2009ZX02306-003;2009ZX02305-013)
根据新形势下存储器单粒子试验的特点,基于FPGA和虚拟仪器相结合的方式设计了一款针对存储器单粒子效应的测试系统。该系统改进了传统测试系统中试验数据的回传方式,能够较好地监测和应对单粒子闩锁(SEL)效应,并能够将单粒子瞬态效应(S...
关键词:单粒子效应 存储器测试 虚拟仪器 
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