唐晨

作品数:5被引量:13H指数:3
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发文主题:闩锁LATCH-UP功率集成电路CMOS集成电路CMOS电路更多>>
发文领域:电子电信电气工程经济管理更多>>
发文期刊:《半导体技术》《固体电子学研究与进展》《中国集成电路》《现代电子技术》更多>>
所获基金:国家高技术研究发展计划江苏省高校自然科学研究项目更多>>
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平板显示器功率驱动芯片的Latch-up及克服方法
《固体电子学研究与进展》2008年第2期253-257,共5页易扬波 孙伟锋 宋慧滨 唐晨 
国家高技术研究发展计划(863)资助项目(2004AA1Z1060)
详细分析了平板显示器驱动芯片中的Latch-up现象,在此基础上采用了一种克服Latch-up的方法:在低压部分增加多子保护环,在高低压之间增加少子保护环。借助TCAD软件详细研究了少子环位置及宽度对抗Latch-up效果的影响。实验结果证明,采用...
关键词:驱动芯片 LATCH-UP 少子保护环 多子保护环 
基于数字电路设计直接比较型准四位ADC的仿真研究被引量:1
《中国集成电路》2006年第7期34-37,56,共5页李文石 唐晨 
江苏省高校自然科学基金(04KJB310126)资助项目。
为入门探索实现全数字化A/D转换器的集成设计方案,逐步改造4位简易ADC电路,使之成为基于门电路和触发器的设计范例。技术要点包括(1)量化编码基于CMOS非门阈值及其移动,(2)阈值移动基于非门组合传输门(替代电阻),(3)取样保持基于边沿D...
关键词:ADC 数字集成 仿真 
功率集成电路中一种抗闩锁方法研究被引量:3
《半导体技术》2006年第6期429-431,440,共4页宋慧滨 唐晨 易扬波 孙伟锋 
国家高技术研究发展计划(863)资助项目(2004AA1Z1060)
在分析功率集成电路中闩锁效应的基础上,采取一种抗闩锁方法,即在高低压之间做一道接地的少子保护环。通过对环的电位、位置和宽度的研究,利用软件工具Tsuprem4和Medici进行模拟比较,并应用于实际版图中进行流片。这种保护结构可以将闩...
关键词:功率集成电路 寄生双极型晶体管 少子保护环 闩锁 
触摸开关优化设计的仿真研究被引量:3
《中国集成电路》2006年第2期51-53,共3页唐晨 李文石 
基于100个触摸开关电路,搭建电路优选出两类各2个电路。本文针对这4个电路的时间延迟和功耗两指标,Hspi ce仿真对比研究电路的优化设计,给出的优化结果经过搭建电路验证。
关键词:触摸开关电路 优化设计 仿真研究 SPICE仿真 时间延迟 
CMOS电路中抗Latch-up的保护环结构研究被引量:7
《现代电子技术》2006年第4期109-111,共3页唐晨 孙伟锋 陆生礼 
闩锁是CMOS集成电路中的一种寄生效应,这种PNPN结构一旦被触发,从电源到地会产生大电流,导致整个芯片的失效。针对芯片在实际测试中发现的闩锁问题,介绍了闩锁的测试方法,并且利用软件Tsuprem4和Medici模拟整个失效过程,在对2类保护环(...
关键词:寄生双极型晶体管 保护环 闩锁 CMOS集成电路 
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