郑柳

作品数:1被引量:1H指数:0
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供职机构:中国科学院半导体研究所更多>>
发文主题:4H-SIC碳化硅肖特基二极管真空系统薄膜生长更多>>
发文领域:电子电信一般工业技术金属学及工艺更多>>
发文期刊:《半导体光电》更多>>
所获基金:中国科学院知识创新工程重要方向项目国家自然科学基金更多>>
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4H-SiC同质外延层中的扩展缺陷研究被引量:1
《半导体光电》2011年第3期359-362,共4页闫果果 孙国胜 吴海雷 王雷 赵万顺 刘兴昉 董林 郑柳 曾一平 
国家自然科学基金项目(60876003);中国科学院项目(Y072011000);中科院知识创新项目(Y072011000)
利用自主研发的热壁低压化学气相沉积(HWLPCVD)系统,在5.08 cm(2英寸)4°偏轴4H-SiC衬底上生长4H-SiC同质外延膜。讨论了4H-SiC同质外延层中的两种扩展缺陷——彗星缺陷和胡萝卜缺陷,研究了这两种缺陷的起源与消除方法。研究发现采用化...
关键词:碳化硅 低压化学气相沉积 同质外延 扩展缺陷 
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