张姚

作品数：4被引量：6H指数：1
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供职机构：合肥工业大学电子科学与应用物理学院更多>>
发文主题：违规电路替换技术NBTI效应时延更多>>
发文领域：电子电信更多>>
发文期刊：《东南大学学报（自然科学版）》《微电子学》《应用科学学报》《电子测量与仪器学报》更多>>
所获基金：国家自然科学基金更多>>
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一种降低电路泄漏功耗的多阈值电压方法被引量：1
《微电子学》2018年第6期839-845,共7页张姚 易茂祥 王可可 吴清焐 丁力 梁华国 
国家自然科学基金面上项目(61371025;61674048)
目前,多阈值电压方法是缓解电路泄漏功耗的有效手段之一。但是,该方法会加重负偏置温度不稳定性(NBTI)效应,导致老化效应加剧,引起时序违规。通过找到电路的潜在关键路径集合,运用协同优化算法,将关键路径集合上的门替换为低阈值电压类...
关键词：负偏置温度不稳定性 泄漏功耗 多阈值电压 
针对抗老化门替换技术的关键门识别算法
《东南大学学报（自然科学版）》2018年第3期411-416,共6页易茂祥 吴清焐 袁诗琪 张姚 丁力 梁华国 
国家自然科学基金资助项目(61371025;61574052;61674048)
为解决现有门替换技术应用中存在的时延仿真不精确和关键门选取冗余问题,对时序分析方法进行改进,通过引入电路内部节点信息,准确预测电路NBTI老化.然后,提出了一种门替换技术应用下的关键门识别算法,定义了表征门电路抗NBTI老化能力的...
关键词：负偏置温度不稳定性 门替换技术 时序分析 电路老化 关键门 
应用基于双权值的门替换方法缓解电路老化被引量：1
《应用科学学报》2017年第2期171-180,共10页朱炯 易茂祥 张姚 胡林聪 刘小红 梁华国 
国家自然科学基金(No.61371025;No.61274036)资助
在纳米工艺水平下,负偏置温度不稳定性(negative bias temperature instability,NBTI)成为影响集成电路可靠性的关键性因素.NBTI效应导致晶体管阈值电压增加,老化加剧,最终使电路时序违规.为了缓解电路的NBTI效应,定义了时延关键性权值...
关键词：负偏置温度不稳定性 电路时序违规 双权值 关键门 非门替换 
缓解电路NBTI效应的改进门替换技术被引量：5
《电子测量与仪器学报》2016年第7期1029-1036,共8页朱炯 易茂祥 张姚 胡林聪 刘小红 程龙 黄正峰 
国家自然科学基金(61371025;61274036;61574052)资助项目
纳米工艺水平下,负偏置温度不稳定性(negative bias temperature instability,NBTI)成为影响集成电路可靠性的关键性因素。NBTI效应会导致晶体管阈值电压增加,老化加剧,最终导致电路时序违规。为了缓解电路的NBTI效应,引入考虑门的时延...
关键词：负偏置温度不稳定性 时序违规 时延关键性 关键门 门替换 
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