程龙

作品数：3被引量：6H指数：1
导出分析报告
供职机构：合肥工业大学电子科学与应用物理学院更多>>
发文主题：电路抗老化NBTI效应违规替换技术更多>>
发文领域：电子电信更多>>
发文期刊：《微电子学》《电子测量与仪器学报》《浙江大学学报（工学版）》更多>>
所获基金：国家自然科学基金更多>>
-
在结果中检索

检索结果分析

署名顺序

  • 全部
  • 第一作者
结果分析中...
共 条 记 录，以下是1-3
全选清除导出
参考文献引证文献引用追踪
视图：
排序：
基于故障插入的电路抗老化输入矢量生成研究
《微电子学》2017年第5期723-728,共6页刘士兴 程龙 范对鹏 周光辉 易茂祥 
国家自然科学基金面上项目(61371025;61274036;61404001)
随着CMOS工艺特征尺寸的不断缩小,晶体管的老化效应严重影响了电路的可靠性,负偏置温度不稳定性(NBTI)是造成晶体管老化的主要因素之一。提出了一种基于固定故障插入的电路抗老化输入矢量生成方法,在电路的合适位置插入固定故障,通过自...
关键词：老化 自动测试向量生成 固定故障 负偏置温度不稳定性 输入矢量控制 
静态随机存储器双向互锁存储单元的抗老化设计被引量：1
《浙江大学学报（工学版）》2017年第7期1453-1461,共9页刘士兴 范对鹏 程龙 王世超 丁力 易茂祥 
国家自然科学基金面上项目(61371025;61574052;61274036)
为了延长抗辐照静态随机存储器双向互锁存储单元(DICE)电路的使用时限,得到偏置温度不稳定性效应(BTI)老化效应对DICE单元性能的具体影响,提出抗老化设计方案.通过SPICE仿真实验,分析DICE单元的老化特性,发现因老化加重的读干扰和半选...
关键词：双向互锁存储单元(DICE) 偏置温度不稳定性 控制晶体管 读干扰 半选择干扰 抗老化 
缓解电路NBTI效应的改进门替换技术被引量：5
《电子测量与仪器学报》2016年第7期1029-1036,共8页朱炯 易茂祥 张姚 胡林聪 刘小红 程龙 黄正峰 
国家自然科学基金(61371025;61274036;61574052)资助项目
纳米工艺水平下,负偏置温度不稳定性(negative bias temperature instability,NBTI)成为影响集成电路可靠性的关键性因素。NBTI效应会导致晶体管阈值电压增加,老化加剧,最终导致电路时序违规。为了缓解电路的NBTI效应,引入考虑门的时延...
关键词：负偏置温度不稳定性 时序违规 时延关键性 关键门 门替换 
全选清除导出
共1页<1>
检索报告 对象比较 聚类工具 使用帮助 返回顶部