国家自然科学基金(50771069)

作品数:4被引量:18H指数:2
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相关机构:四川大学西安交通大学东华理工大学更多>>
相关期刊:《功能材料》《Journal of Materials Science & Technology》《物理学报》《四川大学学报(自然科学版)》更多>>
相关主题:尺寸效应表面形貌晶体取向金属薄膜膜厚更多>>
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纳米晶钨膜的沉积工艺研究及微结构表征被引量:1
《四川大学学报(自然科学版)》2015年第2期348-352,共5页王玲 邓爱红 汪渊 王康 王一航 王飞 安竹 
国家自然科学基金(11275132,51171124,50771069);四川省科技支撑计划基金(2008FZ0002);教育部新世纪人才基金(NCET-08-0380)
采用射频测控溅射方法,在Ar/He混合气氛下制备了纳米晶钨膜;利用增强质子背散射、慢正电子束分析和X射线衍射分析分别对钨膜中钨原子沉积情况、空位型缺陷分布及微结构进行了分析.结果表明:纳米晶钨膜具有完好的体心立方晶体结构,沿(110...
关键词:金属材料 纳米晶钨膜 磁控溅射 增强质子背散射 慢正电子束分析 
Cu/Sn比率对Cu_2SnSe_3薄膜若干物理性质的影响被引量:1
《功能材料》2012年第5期630-634,共5页张伟 陈顺礼 汪渊 
国家自然科学基金资助项目(51171124,50771069);四川省科技支撑计划基金资助项目(2008FZ0002);教育部新世纪人才基金资助项目(NCET-08-0380);金属材料强度国家重点实验室开放基金资助项目(201011006)
利用射频(RF)磁控溅射在玻璃基片上共溅射沉积Cu-Sn预制膜。采用固态硒化法,制备Cu/Sn化学计量比在1.87~2.22之间的Cu2SnSe3薄膜。研究了Cu/Sn比率对Cu2SnSe3薄膜的晶体结构、微结构、光学性能以及电学性能的影响。X射线衍射(XRD)结果...
关键词:Cu2SnSe3薄膜 Cu/Sn比率 硒化 物理性质 
Microstructure and Mechanical Properties of Nanocrystalline Tungsten Thin Films被引量:6
《Journal of Materials Science & Technology》2010年第1期87-92,共6页H.L. Sun, Z.X. Song, D.G. Guo, F. Ma and K.W. Xu State Key Laboratory for Mechanical Behavior of Materials, School of Materials Science and Engineering, Xi an Jiaotong University, Xi’an 710049, China 
supported by the National Basic Re-search Program of China (No. 2004CB619302) ;the National Natural Science Foundation of China (No.50871083, 50771078 and 50771069)
Tungsten (W) thin films were prepared by magnetron sputtering onto Si (100) substrates. Their microstructures were characterized by X-ray diffraction (XRD), field emission scanning electron microscopy (FE-SEM)...
关键词:Tungsten film Microstructure NANOINDENTATION HARDNESS MODULUS 
体心立方金属W薄膜晶体取向的膜厚尺寸效应及其表面映射被引量:10
《物理学报》2007年第12期7248-7254,共7页汪渊 宋忠孝 徐可为 
国家自然科学基金(批准号:50771069);国家重点基础研究发展规划(批准号:2004CB619302)资助的课题.~~
体心立方W膜(110)织构系数T110的变化存在非单调的厚度尺寸效应,这依赖于薄膜中晶粒形核和长大时表面能和应变能的相互作用,薄膜表面结构演变反映了两者的竞争过程.应用小波变换结合分形几何描述薄膜表面结构各向异性行为,用此法构建了...
关键词:金属薄膜 晶体取向 膜厚 表面形貌 
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