国家自然科学基金(90207018)

作品数：5被引量：6H指数：2
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相关期刊：《清华大学学报（自然科学版）》《北京大学学报（自然科学版）》《计算机辅助设计与图形学学报》《计算机研究与发展》更多>>
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基于PTIDR编码的测试数据压缩算法被引量：2
《计算机辅助设计与图形学学报》2008年第2期161-166,共6页李国亮 冯建华 崔小乐 
国家自然科学基金(90207018,60576030)
为减少测试数据存储量,提出一种有效的新型测试数据压缩编码--PTIDR编码,并构建了基于该编码的压缩/解压缩方案.PTIDR编码能够取得比FDR,EFDR,Alternating FDR等编码更高的压缩率,其解码器也较简单、易实现,且能有效地降低硬件开销.与Se...
关键词：测试数据压缩 哈夫曼编码 FDR编码 PTIDR编码 
H.264/AVC帧内预测器的VLSI实现被引量：1
《北京大学学报（自然科学版）》2008年第1期44-48,共5页朱忠平 冯建华 曹喜信 
国家自然科学基金资助项目(90207018,60576030)
提出了一种帧内预测电路的实现方法,在舍弃了平面预测模式情况下,通过多路选择器选择不同加法路径,和大量共用加法器,以较小代价实现了帧内预测所有剩余的预测模式。在基于SMIC CMOS0.18μm最坏工艺条件下,电路规模仅为4000门,关键路径...
关键词：H 264、AVC VLSI 帧内预测 
基于嵌入式内核SOC I_(DDQ)可测试设计方法
《计算机研究与发展》2003年第7期1129-1134,共6页冯建华 孙义和 李树国 
国家自然科学基金 ( 90 2 0 70 18) ;国防重点实验室基金 ( 5 14 3 3 0 2 0 2 )
由于电路门数增大和晶体管亚阈值电流升高 ,导致电路的静态漏电流不断升高 ,深亚微米工艺SOC(系统芯片 )IC在IDDQ测试的实现方面存在巨大挑战 虽然减小深亚微米工艺亚阈值漏电开发了许多方法 ,如衬底偏置和低温测试 ,但是没有解决因为SO...
关键词：系统芯片 SOC 内核 JTAG 可测试性设计 IDDQ测试 
一种有效评估桥接故障的I_(DDQ)可测试性分析算法
《清华大学学报（自然科学版）》2003年第1期140-143,共4页冯建华 孙义和 李树国 
国防重点实验室基金(514330202);国家自然科学基金资助项目(90207018)
鉴于传统的可测试性分析算法不能处理重汇聚扇出问题,该文提出了一种有效的评估电路桥接故障可测试性的IDDQ可测试性分析算法。这种算法是基于给电路中每个门施加基本矢量集的概率进行的。开始在原始输入端采用单值标记,通过电路分级和...
关键词：桥接故障 IDDQ可测试性分析算法 超大规模集成电路 重汇聚扇出 反向蕴含 基本矢量集 电路测试 
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