李悦

作品数：5被引量：9H指数：2
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供职机构：中国科学院电子学研究所更多>>
发文主题：单粒子翻转电路辐照单粒子存储器更多>>
发文领域：电子电信更多>>
发文期刊：《微电子学与计算机》《微电子学》《电子与信息学报》更多>>
所获基金：国家自然科学基金国家科技重大专项国家重点基础研究发展计划更多>>
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基于向量传播的单粒子瞬态模拟方法研究被引量：1
《微电子学》2017年第2期268-273,共6页李悦 蔡刚 李天文 杨海钢 
国家自然科学基金资助项目(61271149);国家科技重大专项资助项目(2013ZX03006004)
提出了一种基于向量传播的单粒子瞬态(SET)模拟方法。基于4值参数的模型来表征SET脉冲的形状,建立脉冲参数传播的数据库。使用查找表及经验公式来计算SET脉冲形状参数在逻辑门节点之间的传播。为了模拟SET脉冲在传播过程中的重汇聚,定义...
关键词：可靠性 软错误率 单粒子瞬态 重汇聚 
基于定向故障注入的SRAM型FPGA单粒子翻转效应评估方法
《微电子学》2017年第1期135-140,共6页卢凌云 徐宇 李悦 李天文 蔡刚 杨海钢 
国家自然科学基金资助项目(61474120;61271149)
介绍了一种基于定向故障注入的SRAM型FPGA单粒子翻转效应评估方法。借助XDL工具,该方法解析了Virtex-4SX55型FPGA的帧地址与物理资源之间的对应关系;将电路网表中的资源按模块分组,利用部分重构技术分别对电路整体及各分组相关的配置帧...
关键词：SRAM型FPGA 单粒子翻转效应 故障注入 部分三模冗余 
基于四值脉冲参数模型的单粒子瞬态传播机理与软错误率分析方法被引量：2
《电子与信息学报》2016年第8期2113-2121,共9页李悦 蔡刚 李天文 杨海钢 
国家自然科学基金(61271149);国家科技重大专项资助(2013ZX03006004)~~
随着工艺尺寸的不断缩小,由单粒子瞬态(Single Event Transient,SET)效应引起的软错误已经成为影响宇航用深亚微米VLSI电路可靠性的主要威胁,而SET脉冲的产生和传播也成为电路软错误研究的热点问题。通过研究SET脉冲在逻辑链路中的传播...
关键词：超大规模集成电路 软错误率 单粒子瞬态 四值脉冲参数 故障传播概率 
单粒子翻转加固锁存器分析与辐照试验验证被引量：3
《微电子学》2016年第2期261-266,共6页李天文 杨海钢 蔡刚 李悦 卢凌云 
国家自然科学基金资助项目(61271149)
对目前基于软错误屏蔽、施密特触发及双互锁单元结构的几种单粒子翻转加固锁存器进行分析,并从面积、延时、功耗和抗单粒子翻转能力等方面进行综合比较。着重剖析了DICE结构的多节点翻转特性,研究了敏感节点隔离对抗单粒子翻转能力的影...
关键词：辐照效应 单粒子翻转 锁存器 辐照设计加固 双互锁结构 
基于部分重构的SRAM型FPGA单粒子翻转模拟被引量：3
《微电子学与计算机》2015年第12期95-99,104,共6页李林 徐宇 卢凌云 贾海涛 蔡刚 李悦 杨海钢 
国家自然科学基金(61271149);国家重点基础研究发展计划(2014CB744600)
介绍了一种基于部分重构技术的SRAM型FPGA单粒子翻转模拟方法.针对SRAM型FPGA的单粒子翻转特性,建立了一种能够模拟不同线性能量转移(LET)值和注量率(Flux)重离子入射的故障注入模型.该模拟方法可用于对SRAM型FPGA应用电路采用的抗辐照...
关键词：SRAM型FPGA 单粒子翻转(SEU)模拟 部分重构 
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