刘建军

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供职机构：集美大学信息工程学院更多>>
发文主题：内建自测试BIST线性反馈移位寄存器可测性设计种子更多>>
发文领域：电子电信自动化与计算机技术更多>>
发文期刊：《电子技术应用》《计算机应用研究》《微电子学与计算机》《计算机系统应用》更多>>
所获基金：国家自然科学基金湖南省国际科技合作项目广西壮族自治区自然科学基金更多>>
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基于折叠重排的低功耗BIST技术研究
《计算机应用研究》2011年第7期2583-2585,共3页谈恩民 詹琰 刘建军 
国家自然科学基金资助项目(60861003)
为了降低测试功耗,提出一种新的低功耗测试矢量方案,该方案增设了一个可编程的约翰逊计数器。这种技术首先对确定测试矢量进行编码得到LFSR矢量种子,然后对LFSR种子解码、重排得到新的测试矢量。通过ISCAS85实验结果表明,该技术能够改...
关键词：内建自测试(BIST) 约翰逊折叠计数器 线性反馈移位寄存器 低功耗 
基于确定模式的伪单跳变测试矢量生成技术
《电子技术应用》2010年第9期104-107,共4页刘建军 李铁军 邹立明 
提出了一种基于确定模式的伪单跳变测试矢量生成方法,它是在折叠计数器确定模式的基础上,采用LFSR编码折叠计数器种子,通过选定的存储折叠距离来控制测试模式,使得产生的测试矢量之间实现伪单跳变。由于是在确定模式基础上进行的研究,...
关键词：低功耗设计 折叠矢量 伪单跳变 确定模式 种子 
一种新型改进矢量产生器设计研究
《机械与电子》2009年第6期25-27,共3页谈恩民 乐小春 刘建军 
利用LFSR与CSR结合,对产生的测试矢量进行过滤,使测试矢量数达到最少,从而降低测试过程中的测试功耗.以ISCSA85实验结果表明,该方案能够改善测试矢量之间的线性相关性,大量减少测试矢量之间的跳变,达到降低功耗的目的.重点介绍了改进型...
关键词：内建自测试 线性反馈移位寄存器 矢量产生器 低功耗 
基于LFSR重复播种种子计算方法的初步研究
《应用科技》2008年第9期1-5,共5页潘学文 周继承 刘建军 
国家自然科学基金资助项目(60371046);湖南省国际合作项目(1713-394201034)资助
提出了一种新的基于线性反馈移位寄存器(LFSR)重复播种种子的计算方法.该方法计算得到LFSR重复播种中使用到的种子,重复播种后能够截断对故障覆盖率效率底的测试序列,每个种子得到长度可变的伪随机测试序列.对ISCSA85电路进行了仿真试验...
关键词：内建自测试 线性反馈移位寄存器 种子 故障覆盖率 
基于动态覆盖率提高门槛值的种子计算方法
《微电子学与计算机》2008年第8期164-167,共4页谈恩民 钱文武 刘建军 
为了向可重复播种的LFSR结构提供种子,提出一种基于动态覆盖率提高门槛值(Dynamic Coverage Im-provement Threshold,DCIT)的种子计算方法.使用该方法计算得到的种子进行重复播种,能够截断对提高故障覆盖率效率低的测试码序列.每个种子...
关键词：动态CIT 线性反馈移位寄存的器 种子 故障覆盖率 
基于折叠集合的确定模式BIST的低功耗设计
《计算机系统应用》2008年第5期107-111,共5页谈恩民 梁晓琳 刘建军 
广西区自然基金(0542050)
提出了一种确定模式BIST的低功耗设计方案,它是在基于折叠计数器的基础上,采用LFSR编码折叠计数器种子,并通过选定的存储折叠距离来控制确定的测试模式生成,使得产生的测试矢量之间实现单跳变。由于是在确定测试矢量基础上进行的研究,...
关键词：低功耗设计 折叠集 折叠矢量 伪单输入跳变 确定测试 
一种新型低峰值功耗的BIST设计研究
《电子与封装》2007年第9期4-7,33,共5页刘建军 刘伟 康跃明 
随着手持设备的兴起和芯片对晶片测试的要求越来越高,内建自测试的功耗问题引起了越来越多人的关注。文章对目前内建自测试的可测性设计技术进行了分析,并提出了折叠种子优化降低节点峰值功耗的模型,通过调整种子结构和测试向量的相关...
关键词：内建自测试 可测性设计 低峰值功耗 片上系统 
集成电路低峰值功耗研究
《世界电子元器件》2007年第5期70-73,共4页康跃明 刘建军 刘伟 
随着手持设备的兴起和芯片对晶片测试越来越高的要求,内建自测试的功耗问题引起了越来越多人的关注。本文对目前内建自测试的可测性设计技术进行了分析,并提出了折叠种子优化降低节点峰值功耗模型,通过调整种子结构和测试向量的相关性...
关键词：峰值功耗 集成电路 内建自测试 测试向量 晶片测试 种子结构 测试应用 可测性设计 
数字集成电路测试中测试矢量的生成
《世界电子元器件》2007年第2期80-82,共3页刘伟 刘建军 
电路的日益复杂和集成度的不断提高，测试已成为集成电路设计中费用最高、难度最大的一个环节。本文主要讨论了测试中伪随机测试矢量的生成，并提出了改进其周期的办法，从而能大大提高故障的覆盖率。最后通过硬件描述语言Verilog在Quar...
关键词：集成电路测试 测试矢量 集成电路设计 硬件描述语言 集成度 伪随机 
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