谢克诚

作品数：10被引量：24H指数：3
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供职机构：中国电子科技集团第二十六研究所更多>>
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电清洗人造石英晶体技术的研究
《压电与声光》2012年第6期915-916,共2页漆婷 李和新 谢克诚 李建芝 石自彬 蒋春键 
该文采用电清洗技术研制出高稳定性,高可靠性,低腐蚀隧道密度的人造石英晶体。通过对电清洗工艺技术的研究,可将腐蚀隧道密度≤100条/cm2、Na+质量分数为2.33×10-6的石英晶体腐蚀隧道密度降低到≤10条/cm2,Na+质量分数减少到0.3×10-6...
关键词：电清洗 石英晶体 低腐蚀隧道密度 Na+含量 抗辐射性能 
La_3Ga_(5.5)Ta_(0.5)O_(14)晶体的生长及性能研究被引量：1
《压电与声光》2009年第1期97-99,共3页漆婷 吴兆刚 莫彦祎 李和新 雷波 谢克诚 董加和 
采用提拉法生长出了直径为54 mm的La3Ga5.5Ta0.5O14晶体,晶体透明,无气泡,无包裹体,无条纹。同时对晶体的压电常数、介电常数、透光光谱及其声表面波器件性能进行了测试,并绘制了晶体的极图。实验结果表明La3Ga5.5Ta0.5O14晶体具有优异...
关键词：La3Ga5.5Ta0. 5O14晶体 提拉法 压电性能 
用比较法测量声光介质的声光优值
《压电与声光》1997年第1期65-69,共5页谢克诚 刘光耀 罗康俊 
扼要介绍了用比较法测量声光介质声光优值的基本原理、实验装置和试样制备等，并用这种方法测量了声光介质分别为声光玻璃和ＬｉＮｂＯ３、Ｂｉ１２ＧｅＯ２０、ＰｂＭｏＯ４、ＴｅＯ２单晶的声光优值。实验结果表明，采用这种方法可避...
关键词：比较法 声光介质 声光优值 测量 声光器件 
晶体折射率测试方法被引量：4
《压电与声光》1996年第1期62-66,共5页谢克诚 刘光耀 罗康俊 
扼要介绍了一种测试晶体折射率的有效方法──激光干涉法．并用这种方法分别测试了ＥＩ１２ＳｉＯ２０、Ｂｉ４Ｇｅ３Ｏ１２、Ｂｉｌ２ＧｅＯ２０、ＬｉＮｂＯ３晶体和熔融石英的折射率．测试结果表明，这种方法具有简便、稳定可靠、测...
关键词：晶体 折射率 测试 激光干涉法 
用衍射光脉冲回波技术测量声光介质的体波声衰减系数
《压电与声光》1995年第3期50-53,共4页谢克诚 刘光跃 
扼要介绍用衍射光脉冲回波技术测量声光介质体波声衰减系数的基本原理、实验装置和样品制备等，并分别测量了声光介质为石英玻璃、声光玻璃和ＬｉＮｂＯ＿３，ＰｂＭｏＯ＿４单晶的体波声衰减系数，给出了实验结果。
关键词：衍射光 声光介质 声衰减系数 
用激光干涉技术测量玻璃材料折射率被引量：2
《压电与声光》1994年第5期57-59,70,共4页谢克诚 刘光跃 
本文简要介绍用激光干涉技术测量玻璃拆射率参量的基本原理和实验装置；给出了实验曲线、测试结果与误差分析。
关键词：激光干涉技术 玻璃 折射率 测量 
用激光点光源干涉法测量晶棒两端面间的楔角被引量：2
《压电与声光》1992年第4期49-51,56,共4页谢克诚 刘光跃 
本文介绍了一种简便的测量微波延迟线所用晶棒两端面间楔角大小的方法。扼要地概述了测量的基本原理和实验装置,并对测量结果进行了误差分析。实验结果表明:这种测量方法具有结构简单,图形直观,操作方便和不受环境影响的优点。其测量精...
关键词：点光源干涉 楔角 激光 延迟线 微波 
用激光干涉法实时监控同轴磁控溅射ZnO薄膜的厚度被引量：3
《激光技术》1991年第6期344-348,共5页谢克诚 
本文介绍了一种在我所生产的 TCJ-300型同轴磁控溅射设备上采用激光实时监控 ZnO 薄膜厚度的方法。实验结果表明,该方法与其它膜厚监控方法相比较具有多种优点:它可以在溅射过程中实时显示薄膜的厚度、均匀性和溅射速率等;本实验装置简...
关键词：ZNO薄膜 溅射 厚度 监控 激光干涉 
硅酸铋晶体的旋光特性被引量：7
《压电与声光》1991年第1期22-25,4,共5页谢克诚 
本文介绍了我所生长的Bi_(12)SiO_(20)晶体的旋光特性。测量了该晶体的旋光率以及旋光率随波长和环境温度的变化,并用回旋偏光法排除旋光性。讨论了由晶体内部光学不均匀性所造成的自然双折射现象等。
关键词：硅酸铋晶体 旋光 晶体测量 
Bi_4Ge_3O_(12)晶体线性电光效应的稳定性分析被引量：8
《压电与声光》1990年第4期46-51,共6页谢克诚 
本文介绍了我所用提拉法生长的Bi_4Ge_3O_(12)晶体线性电光效应的稳定性情况,给出了实验结果,并对实验中影响线性电光效应稳定性的一些因素进行了分析.
关键词：BiGeO晶体 光电效应 稳定性 
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