郭学仁

作品数：13被引量：18H指数：3
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供职机构：桂林电子工业学院机电工程学院机械电子工程系更多>>
发文主题：集成电路电子电路可测性可测性设计故障诊断更多>>
发文领域：电子电信自动化与计算机技术理学文化科学更多>>
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伪随机测试生成在混合电路参数测试中的应用被引量：3
《半导体技术》2003年第9期25-28,共4页叶明军 颜学龙 雷加 郭学仁 
混合信号电路在通信、多媒体等领域获得越来越广泛的应用。然而,测试也变得更复杂。传统上对模拟电路的测试采用的是直接功能测试,即直接测量电路的性能参数Z。采用该测试方法,其缺点是测试时间长、测试设备昂贵、且精度差。本文针对这...
关键词：伪随机测试 混合信号电路 系统设计 测试数据 测试序列 
使用在系统可编程模拟器件实现二阶滤波器被引量：1
《桂林电子工业学院学报》2001年第3期64-68,共5页陈雷 潘明 郭学仁 
在系统可编程模拟技术 isp PAC可改变传统的模拟电路的设计和实现方法。通过系统可编程器件的结构特性以及工作原理 ,提出了使用该器件实现二阶控制系统的方法。计算机仿真和实验结果表明用isp PAC10器件能够实现各种二阶滤波器功能 ,...
关键词：在系统可编程模拟器 二阶滤波器 传递函数 
边界扫描测试—复杂MCM的主流测试技术被引量：6
《桂林电子工业学院学报》2000年第4期14-20,共7页郭学仁 
IEEE- 1149.1测试标准已被广泛认为是解决复杂 MCM和 PCB测试问题的主流测试技术。本文概要论及与测试相关的设计特性 ,详细讨论了不同 MCM的边界扫描测试策略。
关键词：可测性 边界扫描 MCM 多芯片模块 集成电路 
边界扫描结构下的BIST内核及FPGA实现被引量：6
《桂林电子工业学院学报》2000年第1期86-90,共5页谈恩民 郭学仁 
"九五"国家科技预研项目 !(编号 :3 0 .2 .5 .1)
从国内厂家一个实际的内核电路出发 ,对其进行 BIST插入及边界扫描测试的研究 ;在 VHDL描述的基础上 ,用 FPGA实现设计思想 ,并通过了边界扫描主控机的实际测试运行 ,其过程验证了将边界扫描和 BIST技术应用于 MCM或 PCB板功能测试的可...
关键词：边界扫描 FPGA 电子电路 集成电路 
增强扩展能力的BSM设计被引量：2
《桂林电子工业学院学报》2000年第1期96-99,共4页张弘 郭学仁 
国防科技预研项目!(编号 :B960 2 )
主控器设计是边界扫描测试系统设计的重点。这里介绍了一种基于指令模块的主控器体系结构 ,它的指令集的选择依照边界扫描规范并从中提取出最基本的控制方式 ,具有指令扩展功能。采用这样的设计可以使得整个测试控制过程获得更好的兼容...
关键词：边界扫描 主控器 测试系统 
故障分解的并行测试生成算法
《桂林电子工业学院学报》1999年第4期44-47,共4页李颖悟 颜学龙 郭学仁 
国防科技预研项目
并行测试技术是解决当今大规模电路测试难题的一个重要手段。故障分解又是最基本的并行测试方法。详细论述了故障分解的理论和两种故障分解算法的基本模型，并且在实现了一个基于ＦＡＮ算法的并行测试生成系统的基础上详细说明了故障分...
关键词：并行测试 故障分解 大规模算法 集成电路 
带有边界扫描的可编程芯片及其应用
《电子元器件应用》1999年第4期19-22,共4页张弘 郭学仁 
目前的可编程芯片中已经广泛支持边界扫描测试技术,本文对于如何在可编程芯片中应用边界扫描,如何通过可编程芯片的边界扫描结构进行测试,以及可编程芯片中的边界扫描结构对于配置、在系统编程的作用作了详细的说明。
关键词：边界扫描 可编程器件 可测性设计 
用循环队列求解高次本原多项式被引量：3
《桂林电子工业学院学报》1999年第2期6-8,共3页张登辉 郭学仁 
本原多项式是构成线性反馈移位寄存器的基础，在给定级数ｎ情况下确定相应的多个本原连接多项式是工程应用中常遇到的问题，针对级数ｎ较大情况下难以求解其本原多项式这一问题，先给出了求解本原多项式的一般算法，然后针对该算法在求...
关键词：本原多项式 循环队列 抽样 移位寄存器 
用谐波检测技术进行潜在开路故障诊断
《电子工艺技术》1996年第4期15-17,共3页郭学仁 
对于复杂的ＳＭＴＰＣＢ和ＭＣＭ基板，潜在开路故障的诊断，对提高产品的可靠性和降低成本至关重要。本文提出当电流流经金属导体时会在潜在开路故障部位产生信号失真。失真信号含有丰富谐波。
关键词：基板 电子电路 谐波检测 故障诊断 开路故障 
关于SMT测试策略的思考与建议被引量：1
《电子工艺技术》1996年第3期3-6,共4页郭学仁 
简述了国内外ＳＭＴ测试的现状与发展动向。
关键词：SMT 测试 微模组件 
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