黄东巍

作品数：14被引量：19H指数：3
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发文主题：结温闩锁效应集成电路分立器件电子元器件更多>>
发文领域：电子电信电气工程航空宇航科学技术一般工业技术更多>>
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国产SiC功率模块热阻测试方法研究
《信息技术与标准化》2024年第7期47-52,共6页黄东巍 张铮 
为解决国产SiC功率模块的热阻不能准确测试的问题,开展了非开关式电学法在线测量模块热阻的研究。提出模块热阻测试方案,设计搭建模块热阻测试平台,结合器件结构特点和工艺特点,研究获得适用于模块的热阻测试方法,并选用两款典型SiC功...
关键词：SiC功率模块 内部结构 热阻测试 
电子元器件X射线检查缺陷自动识别方法研究
《电子元器件与信息技术》2023年第3期10-13,共4页丁然 黄东巍 
电子元器件的封装缺陷是影响其质量的主要因素之一。目前,国内电子元器件的X射线缺陷检查主要依赖人工识别,检测效率低,元器件检测质量难以有效保证,给元器件的使用带来风险与隐患,已无法满足电子系统日益增加的考核需求。本文首次提出...
关键词：电子元器件 X射线检查 缺陷 自动识别 
基于热成像的GaN HEMT热阻测量
《电子元器件与信息技术》2022年第1期3-5,共3页孙明 王爽 黄东巍 周钦沅 
热阻的准确对功率器件可靠性评价有非常大的影响。利用红外热成像和反射率热成像两种方法,对GaN HEMT器件开展了基于热成像的热阻测试研究。根据GaN材料在不同波长下反射率热校准系数的差异,采用不同波长光源对其进行了测量。反射率热...
关键词：GaN HEMT 热阻 热成像 热反射率 
微波器件中引线键合强度测试方法研究被引量：1
《电子与封装》2020年第8期21-25,共5页黄东巍 王海丽 吕贤亮 李旭 
装备发展部国家军用标准研究项目:新型军用电子元器件破坏性物理分析方法研究。
微波器件中,为了获得更低的寄生效应,会采用引线平直键合和带状引线键合,这些形式的键合引线采用GJB128A-97和GJB548B-2005的键合强度测试方法及其测试值来判断是否合格,易造成误判。对于微波器件的键合强度测试方法进行了分析和试验验...
关键词：平直引线 带状引线 正向键合 反向键合 
垂直双扩散金属-氧化物半导体场效应晶体管电学法热阻测试中测试电流的研究
《电气技术》2020年第8期28-32,39,共6页吕贤亮 黄东巍 周钦沅 李旭 
本文针对垂直双扩散金属-氧化物半导体场效应晶体管器件电学法热阻测试的关键参数——测试电流的影响因素进行研究,测试电流选择恰当与否是热阻测试的先决条件。通过理论分析和三款典型垂直双扩散金属-氧化物半导体场效应晶体管器件的...
关键词：垂直双扩散金属-氧化物半导体场效应晶体管器件 电学法热阻 测试电流 测试延迟时间 校温曲线 
VDMOS功率循环试验中结温在线监测方法研究被引量：2
《国外电子测量技术》2020年第7期73-77,共5页黄东巍 吕贤亮 李旭 
装备发展部共性项目(1807WK0011)资助。
提出一种VDMOS器件功率循环试验中的结温在线监测方法,通过研究功率循环试验中的在线测温原理,提出利用功率循环试验中VDMOS器件在导通态下的漏源电流、漏源电压与温度的对应关系以及器件在关断态下的PN结结电压与温度的对应关系进行结...
关键词：功率循环 导通态 关断态 结温在线测量 
集成电路高温闩锁效应检测方法研究被引量：3
《电子元器件与信息技术》2020年第4期154-157,共4页黄东巍 吕贤亮 李旭 
装备发展部共性项目:军用集成电路高温动态闩锁检测技术研究(项目编号:1707WG0004)。
闩锁效应是CMOS集成电路所固有的寄生效应,效应严重时会导致集成电路烧毁。目前,国内集成电路闩锁效应检测均是在常温条件下进行,无法在实际环境和恶劣条件下对器件进行考核。本文研究并首次提出集成电路高温闩锁效应检测方法,用于考核...
关键词：复杂逻辑电路 高温闩锁效应 恶劣条件 触发 
大功率分立器件间歇寿命试验中结温在线监测方法研究被引量：5
《电子元器件与信息技术》2019年第10期15-20,共6页黄东巍 王海丽 赵雅君 侯小利 周钦沅 
装备发展部共性项目《大功率DC/DC变换器和IGBT等功率器件动态老化试验技术研究》(项目编号:1807WK0011)
本文首次提出大功率分立器件间歇寿命试验中结温多路在线监测方法,可在器件阻断态和导通态均进行温度测量,避免实际情况中导通态导致的过温烧毁情况,提高大功率分立器件使用可靠性。文中研究了IGBT和MOSFET等典型大功率分立器件间歇寿...
关键词：大功率分立器件 间歇寿命 结温 在线监测 
集成电路动态闩锁效应检测方法研究被引量：5
《电子元器件与信息技术》2018年第8期81-84,92,共5页黄东巍 蔡依林 任翔 
装备发展部共性项目:军用集成电路高温动态闩锁检测技术研究(1707WG0004)
本文首次提出集成电路动态闩锁检测方法,用于检测集成电路的真实闩锁防护能力等级,从而为军用集成电路产品闩锁检验提供依据。文中研究了FPGA和D/A转换器等典型集成电路的动态闩锁配置程序设计和试验程序设计等,对FPGA和D/A转换器进行...
关键词：集成电路 动态闩锁效应 恶劣条件 失效机理 静态条件 
DC/DC单粒子效应的多通道高速测控系统实现被引量：2
《国外电子测量技术》2017年第8期42-45,共4页黄东巍 吕贤亮 
核高基重大专项(2011ZX01022-002-003)资助
设计了一种多通道高速数据采集测控系统,用于监测DC/DC电源在单粒子试验中发生的单粒子效应。系统基于PXIe总线构建,采用程控仪器组网方式,数据总线传输速率最高达400 MB/s。对DC/DC器件在中科院近代物理研究所的加速器上进行了单粒子...
关键词：DC/DC 单粒子功能失效 单粒子瞬态 
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